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微聚焦X射线:应用优势明显 国产设备打破垄断

来源:深圳市莱雷科技发展有限公司      分类:商机 2015-07-16 10:46:00 901阅读次数

 X射线技术是一项成熟的老技术,从1895年德国物理学家伦琴发现X射线(又称伦琴射线)起,对于X射线的研究与应用已经历了100多年的时间。但截至目前,对于X射线Z主要的应用大都集中在工业探伤与检测上,其次是YL检查和安全检验方面。电子行业及半导体领域的微检测成像,是一项新兴的X光应用技术,它对X光发生器提出更高的要求,并高度集成了多项工业自动控制软硬件新技术,结合半导体及电子封装工艺特点,把 X射线的应用延伸到一个更高的应用领域。它可以解决半导体生产研发中的基片、晶元质量判定问题,可以检测COB(板上芯片封装)、COG(玻璃覆晶封装)的可靠性,也可以分析BGA(球栅阵列封装)、CSP(芯片级封装)的焊接缺陷。http://www.instrument.com.cn/netshow/C221442.htm


  X射线技术满足复杂封装工艺要求

  从技术指标和应用上考虑,新型X光机必须满足现在复杂的半导体和电子封装工艺要求,可实现多种检测功能如高清晰度图像分析功能、探测物体的自动导航功能、满足大批量生产检测的在线功能、断层CT扫描功能,并且操作简单易维护,机器成本低,能被普通用户接受。

  ZG经过30多年的改革开放,已成为电子制造**大国。一些跨国电子公司不断在ZG投资,加上本土电子制造业也蓬勃发展,使珠三角、长三角、京津地区成为电子产品行业的主要生产地区。特别是半导体技术发展和SMT(表面贴装)技术的应用,使电子制造技术又有了革命性的变化。

  半导体制造封装工艺日趋先进,线路板、芯片的集成度越来越高,简单的DIP(双列直插式封装)、PQFP(塑料方型扁平式封装)和PFP(塑料扁平组件式封装)已经远不能满足芯片集成度的要求,于是出现了BGA球栅阵列封装、CSP芯片尺寸封装。因为封装技术关系到产品的功能:当IC(集成电路)的频率超过100MHz时,传统封装方式可能会产生所谓的“CrossTalk”(串扰)现象,而当IC的管脚数大于208Pin时,采用传统的封装方式就有困难了,因此现今大多数的高脚数芯片皆转而使用BallGridArrayPackage即BGA封装技术。

  BGA一出现便成为CPU、主板上南/北桥芯片等高密度、高性能、多引脚封装的**选择。如何来检验半导体基片、晶元质量,判定COB/COG封装可靠性,如何判定BGA/CSP焊接缺陷,成为电子制造业具有挑战性的课题。5微米以下X光技术的应用,有效地解决了这个问题。

  X射线在电子制造业的研究和应用在国外已经有20年历史,但大部分都是分散的,集中在个别分立功能的探索和实验,还没有行业规范和标准。美国人 25年前就尝试应用微聚焦X光技术检查集成电路模块的内部缺陷,15年前SJ开发应用了BGA的检测软件,并一度在此领域起到了领航作用。但受到当时射线源功能的限制和软件平台的不完善影响,其设备很难满足半导体领域的市场要求,逐渐退出市场。德国人首先把开放式的X射线源应用在微聚焦检测机器上,使得半导体及电子封装有了无与伦比的透射检测效果。但其笨重的大体积设备和复杂的操作维护,加上昂贵的机器成本价格,很难被普通的电子企业所接受,因而也没有大范围推广,其产品研发一直停留在科研机构和极少数国际化大公司的实验阶段。

  ZG拥有几万家半导体和电子封装及线路板生产商,超过90%的厂商还没有采用微聚焦X射线技术进行检测,难以保证其工艺可靠性和产品质量。原因有以下几点:**,厂商还不熟悉X射线应用的强大优势;第二,高深莫测的理论和复杂的操作应用;第三,分立、单一的功能;第四,昂贵的机器价格;第五,进口审批困难(属于ZG海关专控商品)。

  从技术指标和应用上考虑,新型X光机必须满足现在复杂的半导体和电子封装工艺要求,实现多种检测功能如高清晰度图像分析功能、探测物体的自动导航功能(AutoNavigation)、满足大批量生产检测的在线功能(In-line)、断层CT扫描功能,并且操作简单易维护,机器成本低,能被普通用户可接受。但目前即使欧美同类机器都不能同时满足以上各项指标要求。日联光电公司已经把公司未来3年的创新目标锁定在完成以上目标的突破上,争取生产出自动导航在线式CT扫描X光机。这将给国内半导体和电子业界提供一项功能齐全、性能超前的检测平台。


2006年业内预计的国际半导体和电子封装的发展路线图,更说明了微聚焦X射线技术在此领域的应用前景,能进行所有指标的检测和判定,让微聚焦X射线有duyi无二的优势。


  打破国外X光检测技术垄断局面


  现代电子组装业与过去传统模式相比有三大变化:工艺要求更高、产品可靠性越来越受重视、投资规模越来越大。所以检测技术的发展及其设备的特点一定要顺应市场要求,紧跟电子组装工艺的Z*技术 指标需求,瞄准可靠性分析判断的Z终目标,使设备简便易操作、经济实用,以便帮助客户节约投资成本,使每个用户都用得起。应该说高性能、低成本是检测技术和设备的发展出路。

  ZG半导体和电子制造业上万家企业中的90%还没有X射线检测机器。过去因为价格和海关(控制进口)的问题,大家都在观望。但电子制造业的新技术要求,特别是电子封装的精密化发展趋势,使得没有X-Ray机器已经不能解决越来越复杂的技术问题。因此,高性能的X-RAY检测设备已成为各电子制造商的必选,产业前景大好。


  目前我们的竞争对手主要来自欧美和日本。他们的品牌都有一定的知名度和技术含量,但价格昂贵,性能单一,没有将各种应用功能集成。


 


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最近更新:2024-09-05 09:08:14
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