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       2017年7月21日至22日，第二十一届中南六省电子显微镜学术交流会暨湖北省电镜学会2017年学术年会在武汉大学顺利召开，会议吸引了来自湖北、湖南、广东、广西、河南、海南六省的业内专家代表共100余人参会，TESCAN作为显微分析领域新技术的创新者和应用综合解决方案提供商，应邀参加了此次学术交流会。

中南六省电镜会参会人员合影

中南六省电镜会两年举办一届，为区域内的技术交流提供了很好的平台，在促进显微分析工作者之间的学术交流，推动中南六省显微分析技术的发展以及加强中南六省各实验室资源的共享与协作等方面发挥了重要作用。本次学术交流会由湖北省电镜学会理事长王建波教授致开幕词，并邀请了来自各高校、研究院和业内电镜厂家的多位著名专家和学者做了ZT报告，交流电子显微领域的ZXJS和应用进展。

参会人员认真聆听报告

TESCANZG技术专家焦汇胜博士在交流会上分享了题为“TESCAN在电镜、FIB技术领域的创新及应用”报告，向参会的业内学者介绍了TESCAN 的综合分析技术以及其在显微分析领域带来的开拓性应用革新。 随后，焦博士向大家简单介绍了TESCAN新发布的FIB-SEM新品S8000G的创新优势和技术特点，引起了参会专家的广泛关注。

TESCAN技术专家焦汇胜博士精彩分享

TESCAN 新品S8000G FIB-SEM系统

S8000G是TESCANZX发布的一款FIB-SEM新品，是TESCAN S8000系列扫描电镜的DY个新成员，这是一款超高分辨场双束FIB扫描电镜系统。搭载TESCANZX研发的多项创新技术，S8000G可以提供无与伦比的图像质量，可完成复杂的纳米操作并保证JJ的精度和操作灵活性，满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。

更多详情，请关注TESCANZG官方微信“TESCAN公司”