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2018年12月14日，广东省电镜学会在广州中山大学南校区召开了2018年度学会材料学科电镜学术和技术交流会。会议吸引了80余位相关领域专家和研究人员参与，涵盖主题报告12个，内容涉及原位电镜表征、低压扫透技术以及材料结构和性能分析的新技术和新方法等。

中山大学分析测试ZX主任苏成勇教授为会议致辞，广东省电镜学会理事长赵文霞教授介绍了2018年度学会的工作。作为电子显微镜及聚焦离子束领域的技术引领者和创新者，TESCAN应邀出席此次会议，并向参会专家介绍了“TESCAN微分析综合解决方案”，受到广泛关注。

苏成勇教授为会议致辞

电子显微镜是材料微观分析的重要工具之一，一直被广泛地应用于材料、化工、生物医学、半导体与电子器件等领域，但随着电镜技术的发展以及生命科学、原位分析、学科交叉等的应用普及和拓展，科学家对于电子显微镜的综合分析能力要求越来越高。

在此次学术交流会上，TESCANZG市场部经理顾群详细向参会专家介绍了TESCAN近年来在显微领域的技术突破和创新，尤其是TESCAN一直主推的“All-In-One”显微综合分析解决方案。

TESCANZG市场部经理顾群分享All-In-One

顾群经理介绍到，“目前，电子显微镜的发展方向主要围绕三个方面：高分辨、原位和分析能力，而在电子光学发展越来越成熟的今天，如何提高电镜的原位观测和综合分析能力成为今后关注的ZD。”

而TESCAN在产品设计之初就提出了“All In One ”的产品设计理念，在扫描电镜上结合EDS、EBSD等分析技术、FIB技术以及拉曼（Raman）、二次离子质谱（TOF-SIMS）等集成一体化技术，能够给用户提供一个非常全面的微观分析解决方案。

经过多年的深耕和积累，TESCAN已经在这方面取得了巨大成功。目前，在国际市场上，已经有越来越多的用户开始关注并倾向于选择具有ZY分析和扩展性能的“TESCAN扫描电镜平台”，从普通的钨灯丝到高端场发射，甚至双束FIB系统，TESCAN均能提供优异的综合分析性能。

而作为TESCAN微分析综合解决方案的代表产品——TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜（SEM-Raman）和TESCAN 双束FIB-飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）系统已成为更多人青睐和选择的扫描电子显微镜平台。

TESCAN All-In-One 扫描电镜平台

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