1-1.5μm内QE超60%,滨松红外线扫描相机参上!
红外光在光谱中覆盖了很大的一部分区域。其中,短波红外(SWIR)在科研、产业中运用得Z为普遍。所谓短波红外(SWIR),一般是指0.9-1.7μm波长范围内的光线,也可归入0.7-2.5μm。
SWIR的穿透能力很强,适用于检测物体内部结构或者缺陷。比如检查包装中的液体量、检查密封容器中的内容等。另外,还可以进行硅晶片以及太阳能电池的缺陷检测。此外,不同物质对红外光的吸收不同,利用这一特性,通过物体表面的光谱特性分析,还可进行物品的分拣,如塑料分选、检测农产品中的损坏和杂质等。
为了拓展自己的“视觉”范围,人们通过开发红外敏感的材料,制成各类探测器,以实现多种多样的SWIR成像应用。
InGaAs红外相机是SWIR成像的关键器件,有线阵和面阵两种类型。其中,因为低成本、更适合产线设计等优点,线阵扫描型相机更多被工业在线应用所选择。为保证检测的准确性和GX率,需要相机具备高灵敏度、高行频、高稳定性等性能。
基于多年InGaAs红外探测器及相机的研发经验,滨松**款线扫描式InGaAs相机C15333-10E正式登场了!面向工业检测,它可以为应用带来怎样的新的可能?下面就来了解了解这个小可爱吧~
滨松红外线扫描InGaAs相机C15333-10E
宽波段+高灵敏度:1000nm-1500nm内QE达60%以上
这是一个让它显得尤为突出的特点。受制于材料和工艺,一般同类相机仅仅会在SWIR十分有限的一段光谱区域有较好的QE(量子效率)表现,如1500nm附近,这就使得其他SWIR光谱区域所对应的应用,其检测效果始终难以达到更理想的状态。
滨松红外线扫描InGaAs相机C15333-10E光谱范围覆盖了整个SWIR波段:950nm-1700nm,其中1100nm -1600nm部分的QE超过了60%,这一突破,使更高检查精度、检测效率的SWIR成像应用成为可能。
高质量图像以及的矫正功能
在高QE的基础上,通过独特的电路设计,滨松红外线扫描InGaAs相机实现了低噪声和高性能的wan美融合。内置的像素校正功能,可校正热像素(坏点)以及传感器的非均匀性响应(芯片的波动性),图像质量再次提升,检出效率也因此可得到提高。
高行频输出
Z高40kHz的行频,让该相机在高速在线检查应用上毫无压力。
大视场高分辨率
与滨松的InGaAs面阵相机C12741-03(640×512像素)相比,该相机的1024像素线性阵列可捕获更大的视野,使产线上检测通量得以提升。
紧凑小巧+GigEVision:面向工业领域,易于集成和使用
新相机采用了在工业领域广泛使用的千兆以太网接口,并且支持GigE Vision,具备高兼容性。而小型化设计(4.9×4.9×10cm),也让它能更方便地集成到产线的检测系统中。
滨松一直致力于InGaAs红外相机的开发,无论在科研还是产业的应用中,除了高性能以外,高稳定性也获得业内的一致认可。目前也有产品在某半导体厂工作十年零故障的记录。新推出的红外线扫描InGaAs相机C15333-10E也继承了一系列的“家族优点”,希望在产业应用中为用户带去的工作表现。
下面我们再来瞧瞧这款相机的成像案例吧!
# 检测咖啡豆中混入的石头
# 密封容器的液位检查
# 检测大米中混合的杂质(石头和塑料)
# 检查苹果是否损坏
# 包装检查
# 半导体晶圆检查
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