PHI祝贺2014年表面化学分析分技术委员会年会顺利召开
2014年全国微束分析标准化技术委员会表面化学分技术委员会年会于6月12日在中山大学测试大楼召开。全国各地的表面分析标准制定的专家齐聚一堂，共同讨论XPS、AES及TOF-SIMS国家标准的制定，并审查相关标准完成的进度。在去年的基础上，会议表决新的标准立项项目。相关工作取得重大进展，并且顺利达到了预订目标。
高德英特（北京）科技有限公司的陈文征先生、宋维先生和鲁德凤女士作为业界厂商的代表出席了此次会议。从设备厂商的角度对全国标准的制定给出建设性的意见。高德英特（北京）科技有限公司作为ULVAC-PHI在ZG区域全权代表，负责其在ZG的销售及售后服务。
ULVAC-PHI 为Z专业的表面分析仪器制造商。公司专注于研发生产表面分析仪器，是**可提供四种表面成分分析设备的厂商，其产品包括光电子能谱仪（XPS），俄歇电子能谱仪（AES），飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）和动态二次离子质谱仪（D-SIMS）。PHI一直致力于将全面的表面分析技术知识在ZG进行推广，通过协助举办全国表面分析会议、主办地方性的学会讲座及线上讲座，不遗余力的将丰富的表面分析技术与国内从事相关工作的技术人员分享。
ULVAC-PHI旗下的光电子能谱仪（XPS）约占世界份额的60%，其产品定位于高端XPS，性能被行业内专家学者认可，是目前**提供扫描聚焦型X-ray源的厂家，真正实现了XPS的微区分析能力。AES系统采用ZL设计的筒镜式（CMA）能量分析器，实现高空间分辨率、高灵敏度的同时，避免了表面形貌对俄歇成像的阴影效应。TOF-SIMS独特的三重聚焦分析器（TRIFT Analyzer），能够Zda限度的提高二次离子质谱的景深，对表面粗糙样品也可轻松处理。与此同时，ULVAC-PHI提供Z高灵敏度四级杆式D-SIMS，可GX快速完成动态SIMS分析。
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