科技部副部长王伟中莅临上海光谱调研考察
2013年5月8日，科技部副部长王伟中、科技部条件与财务司吴学梯副司长等领导来到上海光谱仪器有限公司就十二五重大专项执行情况、企业科技创新、产品开发以及产品生产工艺等情况进行调研考察。上海市科委陈杰副主任陪同考察。
考察期间，我公司总经理就公司发展历程作了详细介绍，并陪同王伟中副部长一行ZD视察和了解了公司研发、制造、产业工程化和我公司承担的十二五国家重大科学仪器专项工作进展情况。
参观后进行了座谈，公司总经理介绍了企业Z近几年科技进步、新产品研发、技术改造的成果。
在座谈中，王伟中副部长对十二五国家重大科学仪器开发专项经费的管理听取了意见；还询问了国产科学仪器与国外的同类仪器的差距，庄松林院士和公司总经理都认为：我国在科学仪器开发能力上与国外差距不大，国产仪器与国外仪器的差距，主要是在光源、分光器件和检测器等基础产品以及产品制造工艺上，目前通过国家十一五、十二五期间的不断投入，随着部分关键器件攻关取得的一定成功，这个差距正在逐渐缩小。
王伟中副部长对我公司十二五重大科学仪器开发专项工作给予肯定，考察组一行认为此次科学仪器研发调研非常成功。
另外，重大专项《高性能光谱仪器关键元器件与部件的应用及工程化开发》项目总负责人庄松林院士在座谈会上还汇报了他领导的科研队伍的Zxin科研及产业化成果。
领导的视察指导，充分体现了对我们的极大的鞭策和鼓舞。上海光谱仪器有限公司一定不辜负领导的关心和期望，决心按照国家十二五重大科学仪器开发专项工作的部署和要求，努力工作，坚决完成好各个阶段的工作目标任务，为我国科学仪器的发展做出应有的贡献。
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