PHI欧洲线上研讨会
快来和我们一起了解表面分析技术的ZX发展，探索表面分析技术更广阔的应用吧！ PHI 公司将于2021年3月2日至3日（北京时间），举办为期两天的线上研讨会。
本次研讨会的主题将涵盖有关样品制备，XPS、AES和TOF-SIMS在基础研究和应用研究中的应用，利用PHI仪器进行相关表面分析以及数据采集和处理方面的进展等。本次研讨会将由PHI USA实验室的科学家及特别邀请的学者分别带来精彩的报告，更有现场Q&A的环节，为大家答疑解惑。
会议时间（北京时间）
2021年3月2日10:00PM
2021年3月3日10:00PM
议程安排
（*请注意下图时间为欧洲时间，和ZG有时差，例如3月2日3:00PM对应的北京时间是3月2日10:00PM）
本次网络讲坛涵盖了多个研究领域，包括半导体、光电器件和电池材料等。其中德国吉森大学的Joachim Sann博士将做关于“电池材料的XPS分析–障碍和挑战”的报告。由于电池存在离子电导率低、反应活性高和界面处形成复杂的离子化合物，这些对电池材料的测试XPS带来了一些额外的挑战。此外，许多电池材料是宽带隙半导体，也对相关测试带来了更多的挑战，尤其对于存在多种固-固界面的的全固态电池。在这次报告中，Joachim将会介绍一些真实案例，ZD介绍电池样品准确测试所必须考虑的问题。
会议参与注册
复制打开下面链接进行注册：
https://www.phi.com/events/emea-workshop.html
PHI USA简介
作为ULVAC-PHI的子公司，PHI USA的产品应用领域包括：纳米技术、微电子、光伏、数据存储、生物材料和催化。在面对具有挑战性的材料方面问题，PHI USA创新的XPS、AES和TOF-SIMS技术为客户提供了可靠的解决方案，并加快新材料和新产品的开发。
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