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上海长方光学仪器有限公司

IM3523 LCR测试仪 日本日置HIOKI 操作使用 IM3523 LCR测试仪 日本日置HIOKI 操作使用 基本参数

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【导读】IM3523LCR测试仪日本日置HIOKI操作使用选件选件选件应用于生产线和自动化测试领域的理想选择●基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,...

IM3523LCR测试仪日本日置HIOKI操作使用


选件
选件
选件

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

●基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
●在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
●内置比较器和BIN功能
●2ms的快速测试时间

本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。

IM3523LCR测试仪日本日置HIOKI操作使用基本参数测量模式LCR,连续测试测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
±(0.000000[单位]*~9.99999G[单位])(*为Zgao分辩率时的显示位数)
只有Z和Y显示真有效值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.00000~9.99999)
Q:±(0.00~99999.9),Δ%:±(0.0000%~999.999%)基本精度Z:±0.05%rdg.θ:±0.03°测量频率40Hz~200kHz(1mHz~10Hz)测量信号电平正常模式
V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式:10μA~50mArms,10μArms输出阻抗正常模式:100Ω显示单色LCD测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)功能比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能接口EXTI/O(处理器),USB通信(高速)
选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一电源100~240VAC,50/60Hz,Zda50VA尺寸及重量260mmW×88mmH×203mmD,2.4kg附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

IM3523LCR测试仪日本日置HIOKI操作使用


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2004-09-15 09:23:13
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