SYS-NY01农艺形态测量仪技术参数

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【导读】广泛的用于作物的育种、栽培研究工作，能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等，测量数值直接保存在SD卡中，并有专业软件形成作物农艺形状调查表。技术参数：1、...

广泛的用于作物的育种、栽培研究工作，
能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、
单叶面积、总面积果实大小等，
测量数值直接保存在SD卡中，
并有专业软件形成作物农艺形状调查表。
技术参数：
1、有卡测量：读ID样品卡后自动识别样品；
2、无卡测量：26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号；
3、可以测量作物株高、株直径、穗位、
穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数；
4、大容量SD卡2G储存，Z多可储存100万组测量数据，
生成TXT文档，并可以转化为Excl表格；
5、测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号；
6、可以通过软件生成各种农艺测量报告表格；
7、测量范围：0-3000mm；精度：1mm；误差：1mm；

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2004-09-26 09:23:04

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