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用途:
HTC系列高低温冲击试验箱根据试品使用的特殊性,分为两箱式动态冲击和一箱式静态冲击,本系列试验箱既可作冷热冲击试验,也可作单独高温或单独低温使用。广泛用于航空、航天、单位、电子、IT行业等模拟试品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。主要特点:
HTC系列高低温冲击箱:
l两箱法:高低温室转换采用气动控制,转换时间短,温度恢复时间短,温变速度快,结构紧凑,体积小。
l三箱法:测试样品一直处于静态,其温度的转换通过气动系统打开(关闭)不同风门来实现,便于进行在线测试,测试样品不受任何机械冲击,使用可靠性高。
l节能;Z多可节省37%电能。
l保护臭氧层。
l缩短试验时间
l实现系统化;“导电电阻评价系统”在低温、高温循环环境下,可以连续测定焊接部和连接部的导体部分的微小电阻。
l节省实验室空间。
l单计算机Z多可同时监控16台设备
l可选配无纸、有纸记录仪
l可预留液氮接口
型号规格及主要技术参数
序号
产品名称
产品型号
工作室尺寸(mm)
温度范围(℃)
其它指标
执行/满足标准
电源(50HZ)/
参考功率(KW)
1
高低温
冲击试验箱
(两箱法)
HTC45-II
350×400×400
低温:-70~-10
高温:50~200
温度冲击范围:
-40~+120(+150)
温度波动度:≤±0.5
温度均匀度:≤2
转换时间:≤5S
恢复时间:≤5min
GB2423.22-89-Na
GJB150.5-86
MIL-STD-810-503.2
380V/9.0
2
HTC410-II
450×500×500
380V/12.5
3
HTC430-II
600×700×700
380V/20.5
4
HTC450-II
750×800×800
380V/26.0
5
HTC4100-II
1000×1000×1000
380V/32.5
6
HTC55-II
350×400×400
低温:-75~-10
高温:50~200
温度冲击范围:
-55~+120(+150)
380V/15.0
7
HTC510-II
450×500×500
380V/18.5
8
HTC530-II
600×700×700
380V/26.5
9
HTC550-II
750×800×800
380V/32.0
10
HTC5100-II
1000×1000×1000
380V/38.5
HTC65-II
350×400×400
低温:-75~-10
高温:50~200
温度冲击范围:
-65~+120(+150)
HTC610-II
450×500×500
HTC630-II
600×700×700
11
高低温
冲击试验箱
(三箱法)
HTC45-Ⅲ
400×350×400
温度范围:-70~+200
温度冲击范围:
-40~+120(+150)
温度波动度:≤±0.5
温度均匀度:≤2
转换时间:≤5S
恢复时间:≤5min
380V/12.0
12
HTC410-Ⅲ
500×450×500
380V/16.5
13
HTC430-Ⅲ
700×600×700
380V/22.5
14
HTC55-Ⅲ
400×350×400
温度范围:-75~+200
温度冲击范围:
-55~+120(+150)
www.oven.cc380V/16.0
15
HTC510-Ⅲ
500×450×500
380V/21.5
16
HTC530-Ⅲ
700×600×700
380V/29.5
17
HTC550-Ⅲ
800×800×800
380V/34.0
18
HTC5100-Ⅲ(非标)
1000×1000×1000
380V/56.0
19
HTC5180-Ⅲ(非标)
1200×1500×1000
380V/75.0
20
HTC5210-Ⅲ(非标)
1800×1200×1000
380V/92.0
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- 2004-11-08 09:23:17
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