韩国微先锋XRF-2000X射线镀层测厚仪

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【导读】MicroPioneerXRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果,最小测量...

MicroPioneerXRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果,Z小测量面积为直径为0.1mm的圆面积;测量范围：0-35um;

其特点为：激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的shou选机型。测量精度：误差控制在±5%.

型号

TypeH

TypeL

TypePCB

主机箱大小

610Wx670Dx600H

610Wx670Dx490H

可测量样品大小

550Wx550Dx100H

550Wx550Dx30H

Infinityx30H

XYZ三轴移动范围

200Wx150Dx100H

200Wx150Dx30H

Zda负重

5kg

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2004-11-22 09:23:08

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