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- 【导读】MicroPioneerXRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果,最小测量...
MicroPioneerXRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果,Z小测量面积为直径为0.1mm的圆面积;测量范围:0-35um;
其特点为:激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的shou选机型。测量精度:误差控制在±5%.
仪器规格及参数
X射线管油冷式超微细对焦点X射线管
靶材:钨(W)、铝(AL)、钼(MO)
管电压:0~50kv
管电流:0.1mA
照射方式由上往下垂直照射方式
检测器正比例计数管(PC)
仪器校正密度校正,标准样品校正
检测滤片Co片,Ni片可选
准直器
固定型或自动型
固定型:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.3mm
自动型:0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.3mm
输入电压AC220V
温度控制前置放大及主机温度控制
工作温度室温(22~25℃)
真空样品室排气所需时间没有
可测量元素范围钛(Ti)铀(U)
可测量厚度范围原子序:22-25,0.1-0.8um26-40,0.05-35um43-52,0.05-100um72-82,0.05-5um
测量时间10~30s
操作接口WindowsXP
标准曲线.自动做标准曲线功能
.多点标准曲线
.标准曲线的曲线表示
测量功能.常规测量(自动测量功能)
.设定输出方式功能
.确认测量位置功能
.自动测量条件设定(管电流,1次及2次滤波器,ROI,NF滤波器设定)
.薄膜FP法软件
自动测量功能.测量位置的指定(X、Y、Z)
.用鼠标在画面上输入
.同一式样的重复测量功能
.确认测量位置功能(图示)
.原点的设定功能(可记忆每个档案的原点)
.保存原点的影像功能
.原点的补正功能(位置滑动角度补正功能)
补正功能.底材补正
.已知样品补正
.自已输入补正(密度补正)
定性分析功能.KLM标示
.ROI设定数:50
.能谱表示功能
.能谱比较标示功能(2段标示.重叠对照标示.扣除标示)
.坐标尺寸设定功能(强度、能量)
.能谱,样品画面的保存功能
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- 2004-11-22 09:23:08
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