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上海长方光学仪器有限公司

荧光X射线金属镀层测厚仪

来源:内容来源于网络 浏览量:442次
【导读】主机箱输入电压AC220±10%50/60HZ沟通方法RS-232C温度控制前置放大及机箱温度控制对焦激光自动对焦样品对位激光对位安全装置若测量中箱门打开,X射线会在0.5秒内关闭...

主机箱

输入电压

AC220±10%50/60HZ

沟通方法

RS-232C

温度控制

前置放大及机箱温度控制

对焦

激光自动对焦

样品对位

激光对位

安全装置

若测量中箱门打开,X射线会在0.5秒内关闭

表面泄漏

少于1SV

多通道分析

通道数量

1024ch

温度控制

自动前置放大温度控制

脉冲处理

微电脑高速处理器

X射线源

X射线管

油冷,超微细对焦(选项)

高压

0-50KV(程控)

管电流

0-1mA(程控)

目标靶

W靶(可选Mo或Be)

准直器

种类

固定型或自动型(选项)

固定种类大小

可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm

其他大小(选项)

自动种类大小

0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm

计算机系统

计算机

IBM相容

显示器

彩色显示器

打印机

喷墨彩色打印机

校正

应用

单镀层,双镀层,合金镀层,电镀液

修正功能

密度修正,标准样品再校正

2D、3D随机位置测量

2D

均距表面测量

3D

表面排列处理测量

随机位置

任意设定测量点


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2004-11-22 09:23:08
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