金属镀层测厚仪系统校准 和影响测量的若干因素

金属镀层测厚仪系统校准过程：

系统校准流程如图10所示，在校准菜单中选择“系统校准”选项，按“ENTER”键后，仪器进入系统校准模式。

本系统校准共需要校准五个标准样片，进入系统校准后首先显示"基体"界面，此时要把探头垂直的放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误操作，伴随着两声蜂鸣便进入diyi个样片的测量。屏幕首先显示出厂时提供的diyi个样片值。如果显示的样片值和随机配置的样片值大小不符，可以通过""、""键来进行加1或减1操作。按住""或""键不动可以连续加或减，直到调整到显示值和真实值相同为止。调整完样片值之后即可对diyi个样片进行测量，测量两次无误后，伴随着两声蜂鸣，仪器进入下一个样片的校准。若测量两次后仍无两声蜂鸣，说明操作有误，重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。

当第五个样片校准完成后屏幕提示“校准已完成”，然后仪器进入测量界面。仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。

注意：这五个样片可以使用仪器提供的标准片也可以使用已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行，相邻样片间需要有一定的差值。系统校准时所选用的基体必须是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。

1、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

2、表面粗糙度

基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在

不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。

如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。

1、边缘效应

本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

2、曲率

试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

3、试片的变形

探头会使软覆盖层试件产生变形现象，因此在这些试件上测量会出现不太可靠的数据。

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性测量厚度的工作。应避免在强磁场或强电场附近使用本仪器，否则仪器会显示未知的数据，或者无法正常工作。

本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

探头的放置方式对测量有影响，在测量中务必使探头与试样表面保持垂直，否则会产生测量误差。

通常仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个测量值，覆盖层厚度的局部差异，也要求在给定的面积内进行测量，表面粗糙时更应如此。

1、测量曲面及圆柱体，曲率半径较小时，应在未涂覆的工件上校准，以保证测量精度。

2、在曲率半径较小的凹面内测量时，应重新校正。

3、随机配送基体应放在干燥处保存，如果发生生锈现象应及时打磨处理，以免影响测量。

4、标准样片如发生变形、磨损现象建议及时与厂家联系，以免影响仪器测量精度。

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