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上海长方光学仪器有限公司

电子测试设备规范

来源:内容来源于网络 浏览量:70次
【导读】   军用电子测试设备规范:环境要求和测试方法   一、本相测试的引用文件:   GJB150.7-86 军用设备环境实验方法 太阳辐射实验   GJB150.10-86 军用

  电子测试设备规范:环境要求和测试方法

  一、本相测试的引用文件:

  GJB150.7-86 设备环境实验方法 太阳辐射实验

  GJB150.10-86 设备环境实验方法 霉菌实验

  GJB150.12-86 设备环境实验方法 砂尘实验

  GJB150.13-86 设备环境实验方法 爆炸性大气实验

  GJB150.16-86 设备环境实验方法 振动实验

  GJB150.18-86 设备环境实验方法 冲击实验

  GJB403.4-87 设备环境试验方法 环境要求

  SJ/T10167-90 电子设备密封结构实验方法

  二、实验分类和项目:

  1.温湿度测试:

  A:高低温

  B:湿度

  C:温度冲击

  2.低气压

  3.振动:

  A:正弦振动

  B:随机振动

  C:未紧固货载弹跳

  4.冲击:

  A:功能冲击

  B:倾斜跌落

  C:运输跌落

  D:强冲击

  5.防水:

  A:浸水

  B:溅水

  C:滴雨

  6.霉菌

  7.盐雾:

  A:结构件暴露

  B:机箱暴露

  8.易爆性大气

  9.砂尘

  10.日光辐射


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2006-08-20 12:43:06
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