低温试验箱GB 2423.1-89标准简述

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【导读】　　GB 2423.1—89代替GB 2423.1—81低温试验箱标准.本标准等效采用国际标准IEC68—2—1《基本环境试验规程试验A：寒冷》(1974年版)及其**次补充文件I

GB 2423.1-89代替了GB 2423.1-81低温试验箱标准。本标准等效于国际标准IEC68-2-1“基本环境试验程序试验A：冷”（1974年版）和**本补充文件IEC68-2-1A（1978年）。本标准规定了电气电子产品的基本环境试验程序。测试A：低温测试方法。适用于非散热和散热的电气电子产品（包括组件，设备和其他产品）进行低温测试。

低温试验箱GB2423.1-89标准用于评估或确定在低温环境条件下存储（或使用）的电气和电子产品的适应性。它不能用于评估温度变化期间测试样品的电阻和工作能力。此时，应使用GB2423.22“电气电子产品基本环境试验程序，试验N：温度变化试验方法”。此测试方法通常用于在条件测试期间可以达到温度稳定性的测试样品。在测试过程中，将室温下的测试样品放入测试中。当测试样品实际与特定的安装框架一起使用时，应在测试期间使用这些安装框架。从试样达到温度稳定性的时间开始计算试验持续时间；在特殊情况下，如果在状态测试期间测试样品未达到温度稳定性，则在测试箱达到指定温度测试时开始测试持续时间。

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2006-08-29 09:34:35

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