高低温试验箱符合标准介绍

GB / T 2423.1-2001电气电子产品环境测试

第1部分：测试方法测试A：低温：简介：本标准涉及的低温测试适用于非散热和散热测试样品。对于非散热测试样品，测试Aa和Ab不违反先前发布的标准。本标准仅用于评估或确定电气电子产品（包括零件，设备和其他产品）在低温环境下的存储和（或）使用的适用性。此低温测试不能用于评估测试样品对温度变化的抵抗力以及在温度变化时的工作能力。在这种情况下，应使用测试N：温度变化测试方法。低温测试方法分为以下三类：非散热测试样品低温测试：-测试Aa：温度突变-测试Ab：温度梯度散热测试样品低温测试：-测试广告：温度梯度此测试方法通常用于条件在测试过程中，可以获得温度稳定的测试样品。测试持续时间从测试样品的温度达到稳定水平开始计算。在特殊情况下，如果测试样品在条件测试期间无法达到温度稳定性，则测试持续时间将在测试箱（腔室）达到指定测试温度时开始。有关规范应规定：a）试验箱（室）中的温度变化率； b）将测试样品放置在测试箱（箱）中的时间； c）试验样品在试验条件下经受试验的时间； d）测试样品通电或加载时间。在这些条件下，相关规范制定者可以根据GB / T2424.1-1989指南选择上述4个参数（正在考虑在上述条件下进行修订）。

GB / T 2423.2-2001电气电子产品环境测试

第2部分：测试方法测试B：高温：简介：本标准中所述的高温测试适用于两种类型的测试样品：散热和非散热。对于非散热的测试样品，测试Ba和Bb基本上不违反先前发布的标准。高温测试的目的仅限于确定零件，设备或其他产品在高温环境条件下使用或存储的适用性。此高温测试不能用于评估对温度变化的抵抗力以及在温度变化过程中的工作能力。在这些情况下。测试N：应使用温度变化测试方法。高温测试方法分为：非加热测试样品高温测试：测试Ba：温度突变；测试Bb，温度梯度。散热测试样品高温测试：测试Bc：温度突变；测试Bd：温度梯度。此测试方法通常用于在条件测试期间可以达到温度稳定性的测试样品。测试的持续时间从测试样品的温度达到稳定水平开始计算。在特殊情况下，如果条件测试期间测试样品无法达到温度稳定性。从测试箱（腔室）达到指定测试温度时开始计算测试持续时间。有关规范应规定：a）试验箱（室）中的温度变化率； b）将测试样品放入测试箱（箱）的时间； c）测试样品在测试条件下暴露的时间； d）测试样品通电或加载时间。对于这些情况，相关的规范制定者可以根据GB / T2424.1-1989指南选择上述4个参数（正在考虑对包含上述情况的修正）。

GB / T 2423.3-1993电工电子产品基本环境试验程序试验

Ca：恒湿热试验方法（已淘汰，已由GB2423.3-2006代替）GB / T 2423.3-2006电气和电子产品的环境试验第2部分：试验方法试验室：恒湿热方法：简介：本标准等效于采用IEC60068-2-78：2001，该标准规定了电气和电子产品恒湿热测试的严重性等级，适用于散热和非散热样品。本标准适用于确定在高湿度条件下使用，储存和运输的电气和电子产品，组件或设备的适应性。

GB / T 2423.4-1993电工电子产品基本环境试验程序试验

Db：交替湿热测试方法：简介：本标准规定了交替湿热测试的测试程序，强度等级和测试箱（腔室）的基本要求。本标准适用于确定电气和电子产品或材料在潮湿和高温条件下使用和存储的适应性，在潮湿和高温条件下温度循环会发生变化并且产品表面会发生冷凝。