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X射线荧光光谱分析用合成标准物质

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详细介绍

基本信息
产品编号GBW07723
中文名称

X射线荧光光谱分析用合成标准物质

英文名称

X- Ray Fluorescence spectrum Artificial Standard Material

形态固态
基质岩石
存储条件可存放在没有直射光线,温度在26ºC以下的干燥器中。
注意事项使用前105ºC干燥2小时,置干燥器中冷至室温后使用可用纯净SiO2按比例研磨混合,系列稀释后使用Mn组标准样品最小取样量为20mg。
量值信息
组分标准值不确定度单位
Rb1.4 质量分数(10-6)
Ba4.7 0.7质量分数(10-6)
Cr10.2 2.4质量分数(10-6)
Yb0.16 质量分数(10-6)
Hf1.9 0.4质量分数(10-6)
Mo1.1 0.4质量分数(10-6)
As0.92 质量分数(10-6)
Sn0.77 0.27质量分数(10-6)
Pb1.4 0.2质量分数(10-6)
Ni4.3 0.7质量分数(10-6)
Co1.5 0.2质量分数(10-6)
Cu53.5 3.8质量分数(10-6)
La0.72 0.1质量分数(10-6)
Zr9.4 3.4质量分数(10-6)
Nd0.55 质量分数(10-6)
V2.8 质量分数(10-6)
Sr8.03 0.13质量分数(10-2)
Ce1.5 0.1质量分数(10-9)
Zn3.74 0.2质量分数(10-2)
Y1.56 0.96质量分数(10-2)
Ta1.48 0.93质量分数(10-2)
Bi1.58 0.95质量分数(10-9)
Ti7.91 0.18质量分数(10-2)
Mn24.9 5.3质量分数(10-6)
W0.84 质量分数(10-6)
Ga58.4 质量分数(10-6)
Nb0.58 0.24质量分数(10-6)
Cs1.1 质量分数(10-6)
Ge0.09 质量分数(10-6)

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