１．概述

1.1 简介

TY-ABR-1000 装置，在本公司制造的自动双折射测量装置（TY-ABR-1000 系列）的基础上增设了应力载荷装置，由此可以测量到高精度的光弹性常数。测量方法是，采用配置的拉伸/压缩试验机，对样品施加载荷的同时测量光弹性常数。

双折射测量的方式，由于采用光学外差法的普通光路干涉仪，及通过Fourier分析法进行数据处理的方式， 其特点是速度快，精度高，并不受振动及空气流动等外界干扰。干涉仪采用波长为633 nm的频率稳定的横向Zeeman激光器（输出2 mW）作为光源，尽量减少设备构成中的光学部件，实现了长期使用过程中，基本上无需维护的构造。

１．２ 特点

◎测量时间 3秒以下/测量点 

◎解析度 双折射相位差：0.01nm  

                   主轴方位角：0.1deg.

◎精度 应力松弛可控制到最小化

◎负载量 量程0～50N  最小读数0.01N

                  （收费选项：添加可切换式量程）  

◎测量位置确认 可通过目测来确认测量位置

◎操作简单 根据菜单指示用鼠标进行简单操作 

◎最适合用于研究及质量管理

１．３ 双折射测量原理

本设备使用由两个线性偏振光分量（f1，f2）组成的稳频激光器（STZL），两个线性偏振光分量的光频 率略有不同并且彼此正交。 该双频光被斜角分离器分成两个光路，并且每个均被线性偏振器混合成外差。由光电二极管进行光电转换的拍频信号（fb = f1-f2）为几百kHz，可以通过示波器或电相位计读取。 

以此方式，样品的光学相位差（δ）被转换为拍频信号的相位差（δ），并且可以容易地被测量。如图所示，通过使半波片和线性偏振片同步旋转来获得样品的主轴方向（φ）。

○ 相位差：Rｅ

Rｅ=(λ／２π)δ=(ｎＳ－ｎＦ)d   

・λ ：光源波长

・δ ：实测相位差   

・ｎＳ,ｎＦ ：主折射率

・ｄ      ：样品厚度 

○ 主轴方位角：φ 

１．４ 主要规格

１．４．１ 光弹性常数的测量性能及规格性能

规格

１．４．２ 双折射测量性能及规格性能

规格

１．４．3 装置外形

光弹性测量装置 型号TY-ABR-1000

１．５ 测量例

１．５．１ 光弹性常数测量

光弹性常数TAC（三乙酰纤维素）薄膜  

歪失真量VS相位差TAC（三乙酰纤维素）薄膜

2. 交货条件 

2.1 货期 

一般情况下在接受正式订单 6 个月后出厂交货。但是，在发生意外的情况时，将经协商另行决定。出口/运输时间另行协商。 

2.2 交接条件 

    在本产品规格书中所示的范围内进行调整并交付。

2.3 验收 

    在贵公司负责人的监督下进行试运行，以满足下列条件视为验收结束。(1)本装置满足产品规格书中所记载的功能。

(2) 本装置能够正常运行。

(3) 可以满足贵公司的验收条件。 

2.4 质量保证 

本装置验收后一年之内，如明显属于本公司职责范围内的产品不良而产生的故障或不良，本公司将提供免费修理或更换。

2.5 使用条件 

请按照本产品规格书以及操作指南中的说明使用本装置。如不遵守本产品规格书以及操作指南的要求而进行操作时，恕不提供质量保证。