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高速CCD光纤光谱仪 SM245
- 品牌:美国SP
- 型号: SM245
- 产地:美洲 美国
- 供应商报价:¥1000
- 上海润芒光电科技有限公司 更新时间:2024-04-16 10:43:13
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销售范围售全国
入驻年限第7年
营业执照已审核
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- 高速CCD光纤光谱仪 SM245 核心参数
产品特点
- * 高性价比,科研级性能
* 低噪声,低杂散光
* 高探测速度
* 紫外增强探测器
* 灵活的光学输入,狭缝和光纤可选
* 波长范围覆盖200-1050 nm
* 为弱光条件新升级的自动快门
* 16bit精度的USB 1.1/2.0接口
详细介绍
高速CCD光纤光谱仪
SM245是一款像素高达2048的高速CCD光谱仪。电路设计的提升,使得该光谱仪的暗噪声和探测速度一样得到了提升。这方面的性能提升更加适合在光谱和色度测量方面的应用。
硬件方面,SM245可以根据需要,采用狭缝和光纤两种输入方式。数据输出采用16bit精度的USB1.1/2.0接口。同时USB接口支持8通道配置,使得该光谱仪在分辨率和光谱探测范围方面,以及双光谱仪系统方面有更多的可能。
UV波段的增强设计,使得光谱仪在500nm以下波段的灵敏度提升了20-50%。
软件采用SP提供的SM32Pro Windows,包含SDK和DLLs,易学易用,方便二次开发。
产品特点
* 高性价比,科研级性能
* 低噪声,低杂散光
* 高探测速度
* 紫外增强探测器
* 灵活的光学输入,狭缝和光纤可选
* 波长范围覆盖200-1050 nm
* 为弱光条件新升级的自动快门
* 16bit精度的USB 1.1/2.0接口
型号
SM245
探测器
Sony ILX511 CCD
像素:2048
像元:14μm×200μm
阱深:62,500 e-
灵敏度:1800 V/(lx s) @ 660nm
光谱范围
200-1050 nm
分辨率
0.15 to 10nm(取决于光栅和狭缝)
杂散光
<0.01% at 632nm (<0.05% Ave)
F/#
2.7
暗噪声rms
<35 RMS,16bit /w 35ms
信噪比
>300: 1
最小积分时间
1 ms
数据接口
USB 1.1/2.0 16 bit
光纤接口
SMA905/FC
触发模式
自由运行模式
软件触发模式
硬件触发:(9-pin connector): TTL边缘触发输入/数字输出
软件
SM32Pro (免费,含SDK)
尺寸
3.54 H× 2.76L × 1.73 D inch.
重量
< 1千克
信噪比 | >300: 1 | 光谱范围 | 200-1050 nm |
杂散光 | <0.01% at 632nm (<0.05% Ave) | 像素尺寸 | 14μm×200μm |
分辨率 | > 0,15 nm |