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高速CCD光纤光谱仪 SM245

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高速CCD光纤光谱仪 SM245 核心参数
信噪比 >300: 1 光谱范围 200-1050 nm
杂散光 <0.01% at 632nm (<0.05% Ave) 像素尺寸 14μm×200μm
分辨率 > 0,15 nm

产品特点

* 高性价比,科研级性能
* 低噪声,低杂散光
* 高探测速度
* 紫外增强探测器
* 灵活的光学输入,狭缝和光纤可选
* 波长范围覆盖200-1050 nm
* 为弱光条件新升级的自动快门
* 16bit精度的USB 1.1/2.0接口

详细介绍

高速CCD光纤光谱仪

      SM245是一款像素高达2048的高速CCD光谱仪。电路设计的提升,使得该光谱仪的暗噪声和探测速度一样得到了提升。这方面的性能提升更加适合在光谱和色度测量方面的应用。

      硬件方面,SM245可以根据需要,采用狭缝和光纤两种输入方式。数据输出采用16bit精度的USB1.1/2.0接口。同时USB接口支持8通道配置,使得该光谱仪在分辨率和光谱探测范围方面,以及双光谱仪系统方面有更多的可能。

      UV波段的增强设计,使得光谱仪在500nm以下波段的灵敏度提升了20-50%。

      软件采用SP提供的SM32Pro Windows,包含SDK和DLLs,易学易用,方便二次开发。

产品特点

* 高性价比,科研级性能

* 低噪声,低杂散光

* 高探测速度

* 紫外增强探测器

* 灵活的光学输入,狭缝和光纤可选

* 波长范围覆盖200-1050 nm

* 为弱光条件新升级的自动快门

* 16bit精度的USB 1.1/2.0接口

 

型号

SM245

探测器

Sony ILX511 CCD

像素:2048

像元:14μm×200μm

阱深:62,500 e-

灵敏度:1800 V/(lx s) @ 660nm

光谱范围

200-1050 nm

分辨率

0.15 to 10nm(取决于光栅和狭缝)

杂散光

<0.01% at 632nm (<0.05% Ave)

F/#

2.7

暗噪声rms

<35 RMS,16bit /w 35ms

信噪比

>300: 1

最小积分时间

1 ms

数据接口

USB 1.1/2.0 16 bit

光纤接口

SMA905/FC

触发模式

自由运行模式

软件触发模式

硬件触发:(9-pin connector): TTL边缘触发输入/数字输出

软件

SM32Pro (免费,含SDK)

尺寸

3.54 H× 2.76L × 1.73 D inch.

重量

< 1千克

 

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