-
-
赛默飞(原FEI)ELITE 系统
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: ELITE
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
-
赛默飞电子显微镜
更新时间:2024-07-08 11:06:41
-
企业性质生产商
入驻年限第2年
营业执照已审核
- 同类产品其它无损检测仪器/设备 (39件)
联系方式:电子显微镜18621035632
联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
-
为您推荐
- 赛默飞(原FEI)ELITE 系统 核心参数
- 详细介绍
产品介绍:
随着“超越摩尔定律”技术的普及,封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂;芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小,而基板则采用更高的图案密度和嵌入式组件。缺陷在不断增加,缺陷检测则变得更加困难。
通过使用具有zui高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT),Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种缺陷类型的通孔封装缺陷、片上缺陷甚至板载电气缺陷的定位提供了一套重要解决方案,这些缺陷包括电源或线路短路、ESD 缺陷、电流泄漏、氧化伤害、缺陷晶体管和二极管、器件闩锁以及电阻性开路。
ELITE 是di一款可为二维和三维器件提供动态无损实时 LIT 的完全集成系统。作为市场ling导者,ELITE 系统的设计采用专有的高灵敏度 InSb 摄像头、定制光学器件和高级算法,具有出众的性能,并可以在最短时间内获得结果,通过为失效分析工程师提供根本原因分析所需的关键信息,有效缩短分析学习的周期。
另外,由于具有所有无损技术中zui高的热灵敏度,ELITE 系统能够检测zui具挑战性的缺陷,无需开封检查或从封装中取出芯片,甚至无需对 IC 器件进行剥层,因而消除了使用有损方法时意外遗漏故障的风险。
此外,ELITE 系统可与其他无损技术(例如扫描声学显微镜 (SAM) 或二维和三维 X 射线技术)相结合,通过传递故障位置的精确 x、 y 和 z 坐标,加快获得结果的速度并提高成功率,从而在需要深度信息或存在微小特征时显著缩小 X 射线和 SAM 的搜索半径并缩短检查时间。ELITE 系统还提供配备固体浸没透镜 (SIL) 和 S-LSM 选项的高分辨率光学器件,可实现最高水平的分辨率和图像质量。
主要优势:
完全无损,无需开封检查,无需逆向处理,没有遗漏或损害缺陷证据的风险
快速识别 精确定位集成电路板上的缺陷元件
定位缺陷在x-y方向有微米精度,深度定位精度 20 μm
- 产品优势
- ELITE 是DY款可为二维和三维器件提供动态无损实时 LIT 的完全集成系统。作为市场领导者,ELITE 系统的设计采用专有的高灵敏度 InSb 摄像头、定制光学器件和高级算法,具有出众的性能,并可以在Z短时间内获得结果,通过为失效分析工程师提供根本原因分析所需的关键信息,有效缩短分析学习的周期。
- 解决方案
电子枪: | 钨灯丝 |