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微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP
- 品牌:昊量/auniontech
- 型号: MPROBE 40 MSP
- 产地:徐汇区
- 供应商报价: 面议
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上海昊量光电设备有限公司
更新时间:2024-08-12 10:55:59
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企业性质授权代理商
入驻年限第4年
营业执照已审核
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- 详细介绍
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP
MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜,用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序,并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度,包括多层薄膜堆叠。不同的模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这反过来又决定了可以测量的厚度范围。
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP的应用:
1. 测量圆柱或曲面上薄膜厚度:注射器、支架、销钉、电线等。即使在高度弯曲的表面上,小点也会产生平坦的场以实现精确测量。
2. 不均匀、粗糙的涂层或光散射材料,如高雾度或纳米粒子注入薄膜。小光斑定位测量有效地减少光散射和不均匀性的影响
3.图案晶圆、MEMS 和其他需要高灵敏度领域的小区域测量的应用。
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP基本规格:
精度
0.01nm或0.01%
准确度
0.2%或1nm
稳定性
0.02nm或0.03%
聚焦点尺寸
0.2mm或0.4mm
样品尺寸
>20mm
厚度范围
0.05-70um
波长范围
400-1000nm
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP选型列表:
MProbe 40
波长范围
厚度范围
VIS
400nm -1100nm
10nm – 75 μm
UVVISSR
200nm -1100nm
1nm -75μm
VISHR
700nm-1100nm
1μm-400μm
NIR
900nm-1700nm
50nm – 85μm
UVVisF
200nm -1700nm
1nm – 85μm
UVVISNIR
200nm-800nm
1nm -5μm
NIRHR
1500nm -1550nm
10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)
*可根据要求设计定制探头
- 产品优势
- 晶圆、各类曲面无接触光学小点薄膜厚度测量