微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序，并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度，包括多层薄膜堆叠。不同的模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分，这反过来又决定了可以测量的厚度范围。

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP的应用：

1. 测量圆柱或曲面上薄膜厚度：注射器、支架、销钉、电线等。即使在高度弯曲的表面上，小点也会产生平坦的场以实现精确测量。

2. 不均匀、粗糙的涂层或光散射材料，如高雾度或纳米粒子注入薄膜。小光斑定位测量有效地减少光散射和不均匀性的影响

3.图案晶圆、MEMS 和其他需要高灵敏度领域的小区域测量的应用。

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP基本规格：

微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP选型列表：

*可根据要求设计定制探头