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柳沁科技LQ-KS3-150B快速温度变化试验设备

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详细介绍

快速温度变化试验设备适用于各类电I电子产品及其他产品、零部件和材料进行高低温恒定和渐变、突变、 湿热试验等环境模拟可靠性试验。

快速温度变化试验箱将高温和低温以设定的时间频率进行切换,让被检测样品能够在温度快速变化的情况下运行,检测样品在快速温变后发生的变化。而且有些产品在模拟的温度变化的环境下,一些潜存在产品深处的问题都会慢慢暴露出来,就比如材料问题、制作工艺等。

快速温度变化试验设备满足标准:

GB/T 10592-2008高低温试验箱技术条件

GB/T 2423.1-2008低温试验方法

GB/T 2423.1-2008高温试验方法

GJB150.3A-2009高温试验

GJB150.4A-2009低温试验

GJN1032-1990环境应力筛选方法

产品&规范

厂商名称

高温

低温

温变率

循环数

循环时间

备注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
电子产品应力筛选

——

工作极限温度

工作极限温度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
电子设备环境应力筛选

设备或系统

71℃

-54℃

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19
电子设备环境应力筛选方法

——

工作极限温度

工作极限温度

10℃/min

10

——

驻留时间为内部达到温度10℃时

NABMAT-9492
美军制造筛选

设备或系统

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

驻留时间为内部达到温度5℃时

GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南

组件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

达到温度稳定的时间

GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南

设备或系统

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

达到温度稳定的时间

笔记本电脑

主板厂商

85℃

-40℃

15℃/min

——

——

——

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