IS6-D-UV 是一个 6 英寸积分球（内部 5.3 英寸），带有用于发散 (D) 光束的硅探测器。IS6-D-UV 配有紫外线检测器，校准范围为 200 至 1100nm，可测量高达 1W 的功率。

吸收器表面的损坏对测量精度的影响

如果损坏导致吸收发生变化，则对吸收器表面造成的损坏会影响读数。检查这一点的一种方法是将光束稍微移离受损区域，并查看读数是否发生变化以及变化幅度有多大。当指定损坏阈值时，在这个功率或能量密度值下，可能会出现外观损坏，导致表面发生一些颜色变化，但通常将损坏阈值定义为导致变化超过 1% 的功率或能量密度。

电磁干扰对测量精度的影响

Ophir 仪表和传感器经认证符合 CE 对电磁辐射敏感性和发射的要求。在强度达到 CE 规定的极限的几乎所有辐射频率下，人们都不会注意到任何干扰。在极少数特定频率情况下，可能会有一些明显的干扰。已指定在任何频率下可以看到的干扰范围小于全额定功率的 0.3%。