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德国布鲁克 Dimension HPI原子力显微镜

联系方式:布鲁克400-8226768

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德国布鲁克 Dimension HPI原子力显微镜 核心参数
仪器分类: AFM
详细介绍

产品介绍:

Dimension HPI

Dimension HPI 系统专为大批量、大生产环境而设计,支持多种 AFM 模式进行自动化测量,具有简单易用性,并能实现在质量控制、质量保证和失效分析中的最 低检测成本。Dimension HPI 使用接触、轻敲和 峰值力轻敲模式技术,使用户能够精确控制探针和样品的相互作用力,从而延长探针寿命,并且在数千次测量中保持测量的准确性。


创新
峰值力攻丝
最 小化探头上的横向力,以进行样品保护、延长探针寿命和最一致的测量。
独特
快速扫描 AFM 探头
低成本测量,并保证最可靠的数据。
易于使用
自动化软件
使每个用户成为 AFM 专家,并确保操作员与操作员之间的一致性。


特征

广泛的测量范围



从传统的AFM扫描模式到独有的 PeakForce 峰值力模式,Dimension HPI 提供灵活的选项,可满足各种样品在特定制造工程中对测量的需求,而不受通常 AFM 用于研究时的设置复杂性的限制。


快速纳米电气计量


快速扫描技术和导电力显微镜 (CAFM)结合可以在高扫描速率下测量纳米级的电流,显著提高失效分析的效率。FastScan HPI 利用峰值力轻敲模式下的磁力显微镜技术,可以在不影响磁力显微镜精度的情况下将扫描速度增大10倍。PeakForce KPFM™提供最 高的空间分辨率和最精确的表面电位测量。PeakForceTUNA 提供灵敏的导电性测量。


精确的纳米力学性能表征


布鲁克独特的 PeakForce QNM 和 FastForce Volume™ 模式可以精确测量材料的力学性能 - 模量、刚度、粘附性、耗散和形变量,同时对样品形貌和电学特性进行成像。PeakForce QNM 支持对聚合物、薄膜和纳米缺陷进行非破坏性测量,这些缺陷无法通过TEM或SEM技术进行测量。



产品优势
高效的工业研发型AFM
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