赛默飞世尔 扫描电子显微镜 Phenom ParticleX AM Desktop SEM

一般 SEM 使用

 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 具有一个带有准确快速电动样品台的电镜室，可分析最 高 100 mm x 100 mm 样品。尽管样品尺寸更大 ，但专 利的循环加载机制可使通气/加载循环保持到行业领先的 60 秒或更短的样品加载时间。实际上，这可改善 SEM 系统的通量因子。

增材制造

 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 可测量各种大小和形状参数，例如最 小和最 大直径、周长、长宽比、粗糙度和铁氧直径。所有这些结果均可以 10%、50%、90% 值（例如、 d10、d50、d90）显示。

元素绘图和谱线扫描

用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。这对于涂层、涂料以及其他多层应用特别有用，可用于分析边线、涂层、横截面等

二级电子检测器

ParticleX AM Desktop SEM 可选提供二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，非常适合揭示详细的样品表面信息。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。