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东谱科技多通道电致发光特性测量系统EL-Lab
- 品牌:广州东谱
- 型号: EL-Lab
- 产地:广州
- 供应商报价: 面议
- 东谱科技(广州)有限责任公司 更新时间:2024-07-02 09:02:02
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企业性质生产商
入驻年限第4年
营业执照已审核
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- 标签: 多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、电致发光
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- 详细介绍
产品关键词:多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、多通道、电致发光器件老化系统、光谱功率分布( λ)、光谱功率分布( λ)、光通量、相关色温(CCT)、显色指数(CRI)、电功率密度
产品简介
多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员,与东谱科技的电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成,包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性,可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量,且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能,从而可以适应丰富的测量场景,如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。
产品特点
□ 多通道批量测量;
□ 可放进手套箱内测试;
□ 支持长时间的多个器件的老化测试;
□ 支持宽温度范围的变温测试;
□ 全面的电致发光测量参数。
关于测试通道:可灵活定制不同数量的测试通道和功能,如:
■ 总测试通道:6 个
■ IVL 测试通道:5 个
■ 光谱测试通道:1 个
■ 老化(稳定性)测试通道:5 个
■ 变温测试通道:选配
产品功能
□ 发光效率参数:外量子效率、电流效率、功率效率等;
□ 电学参数:电压(V)、电流(I)、电流密度(J)、电功率密度等;
□ 辐射度学参数: 光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等 ;
□ 光度学参数:亮度、光通量等;
□ 色度学参数: CIE 色度坐标、相关色温(CCT)、MK-1、显色指数等 ;
□ 器件老化参数:不同老化时间下的上述参数;
□ 变温测量等。
规格参数
光电测量模块 光谱测试模块 波长范围 350-1100 nm 波长范围 200-1100 nm 峰值波长 970 nm 积分时间 3.8 ms – 10 s 灵敏度 0.725 A/W 动态范围 3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition 有源面积 100 mm^2 杂散光 <0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm 上升/下降时间 65 ns(632 nm, RL=50Ω, 5V) 光学分辨率 ~1.5 nm(FWHM) 噪声等效功率 2.07x10-13 W/√Hz(970 nm, 5 V) 源表 暗电流 600 nA (Max. 5V) 参数 电压范围-20 V~20 V;电流范围-120 mA~120 mA;
分辨率 100 pA/0.1 mV
结电容 375 pF (Typ. 5V) 产品应用
□ 量子点发光二极管(QLED);
□ 有机发光二极管(OLED);
□ 发光二极管(LED);
□ 钙钛矿发光二极管(PeLED);
□ 其它各种类型的电致发光器件。
- 产品优势
- 利用该系统组件的分布特性,可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量,且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能,从而可以适应丰富的测量场景,如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、多通道、电致发光器件老化系统、光谱功率分布( λ)、光谱功率分布( λ)、光通量、相关色温(CCT)、显色指数(CRI)、电功率密度
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