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东谱科技电致发光测量仪/IVL测试系统/器件寿命测试系统 NovaLum

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产品特点

电致发光测量仪NovaLum包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能,适用于电致发光样品电致发光效率(电流效率、功率效率、外量子效率等)、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数的精确测量。该测量仪很好地解决了行业上:(1)利用分光辐射度计测试时,存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题,从而不能用于易老化器件的测试,也不适宜用于宽亮度范围的器件测试;(2)利用积分球系统测试时,无法得到准确的前向亮度参数,且高亮度时也存在过曝问题,不能对强发光样品进行测试等的问题。电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、EQE、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统、自动对焦、朗伯假设、相对法、光分布法、光谱功率分布( λ)、辐射通量、光通量、相关色温(CCT)、显色指数(CRI)、电功率密度

详细介绍

产品关键词:电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、EQE、JV、IV、发光量子产率测量系统、自动对焦、朗伯假设、相对法、光分布法、光谱功率分布( λ)、辐射通量、光通量、相关色温(CCT)、显色指数(CRI)、电功率密度

产品简介

电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员,用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能,可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数,如电致发光效率(电流效率、功率效率、外量子效率等)、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上:(1)利用分光辐射度计测试时,存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题,从而不能用于易老化器件的测试,也不适宜用于宽亮度范围的器件测试;(2)利用积分球系统测试时,无法得到准确的前向亮度参数,且高亮度时也存在过曝问题,不能对强发光样品进行测试等的问题。

产品特点

□ 可以得到准确的亮度,因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量。

□ 配备自动化的角度分辨测试功能,可以快速得到样品发光的空间分布特性。

□ 配备了稳定性测试功能,进行老化测试,具有宽的亮度检测范围(<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 )。

□ 可以进行各种环境的测试,如气体氛围、器件不封装转移测试等,同时可以实现手套箱内快速换样测试。

□ 配备自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换等系统,可以极大地提升测试效率。

产品功能

□ 多种扫描模式:电压扫描、电流扫描、角度扫描、时间扫描。 

□ 分段循环电流、电压扫描:可以研究器件的迟滞效应等。

□ 实时测量:可以实时单点测量,灵活判断器件的工作情况。 

□ 两线/四线测量:四线测量可更加准确地测量器件的电流电压。 

□ 自动切换器件:通过软件选择测量的子器件。

□ 自动积分时间:避免因为亮度过低导致测不出信号、或亮度过高导致的过曝的问题。

□ 配备可视化实时观察及位移系统:在软件中可以实时观察到器件的表面发光情况,可软件操作对焦。

□ 自动保存数据:测量过程中自动保存数据,避免数据丢失等状况。

规格参数

亮度测量
光谱测量
亮度范围0.01~9,999,000 cd/m^2波长范围200-850nm 或者 350-1000nm
测试角1/3°积分时间4 ms - 10 s
视角动态范围1300:1
相对光谱敏感度匹配 CIE 光谱发光效率函数 V (λ)校准线性度>99.8%
小测量面积 Ø 4.5 mm (0.4mm)光学分辨率~1.5 nm (FWHM)
短测量距离 1012mm (213mm)电流电压测量
测量时间

AUTO:0.7~4.3 s

电压范围/分辨率-210V~210V/100nV
MANUAL:0.7~7.1 s电流范围 /分辨率-1.05a~1.05a/1pA

产品应用

□ 量子点发光二极管(QLED)

□ 有机发光二极管(OLED)

□ 发光二极管(LED)

□ 钙钛矿发光二极管(PeLED)

□ 其它各种类型的电致发光器件

测试样例

LED器件测试示例
显示屏测试示例



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