布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：

• 提供 1.5 nm 的空间分辨率

• 在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试

• 在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案

• 全自动内置 ARGUS 成像系统