GAT通用自动测试系统平台适用于及民用电子产品生命周期的器件选型、研发测试、DVT（设计验证测试）、可靠性试验、生产过程控制等关键环节。通过系统平台的导入，能够快速为用户搭建产品的测试验证系统和柔性生产线，使产品得到全面JZ的测试，有效降低产品研发投入及生产测试成本。同时，通过制程的质量控制及对测试数据的实时分析，及时发现产品研发、生产的各关键环节的异常问题，帮助用户深度发掘产品潜在问题，满足不同用户的使用需求。

GAT特点：

◆ 通用性：源于实践，广泛适用于民用通信、射频微波、电子等行业的研发调测、生产测试、可靠性试验、外场试验等应用场景。

◆ 兼容性：所有产品测SY例集中于同一平台，支持多品牌仪表兼容互换。

◆ 安全性：按用户进行权限管理，权限细化到每个功能点及产品。

◆ 高效性：产品自动测SY例的快速搭建，通过引入自动化工装、开关矩阵实现一键测试，提升测试效率。

◆ 可扩展性：系统功能模式、仪器设备驱动库和测试脚本均可重构与扩展，还可以基于开发的接口进行二次开发工作。

◆ 平台化：平台化架构设计，采用搭积木式模块构建，集成编译器和调试器组件。

◆ 网络化：系统采用C/S架构构建，支持单机运行，同时支持多个测试工位组网，实现多工位测试数据统一存储，数据实时分析。