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布鲁克 XRD D8 DISCOVER Plus X射线衍射仪

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详细介绍


D8 DISCOVER Plus 规格


规格优势
TWIST-TUBE

轻松在点焦点和线焦点之间切换

可用阳极材料:Cr、Cu、Mo、Ag

zui高功率和灯丝:zui高3 kW,取决于阳极材料(0.4 x 16mm²)

EP 1 923 900 B1

快速改变波长,以理想地匹配不同应用

可以zui快的速度在线焦点和点焦点之间切换,因此扩展了应用范围,并且可在更短的时间内,获得更好的结果。

Iµs 微焦源

功率负载:zui高50 W,单相功率

MONTEL和MONTEL Plus光学器件:结合了平行镜和聚焦镜

光束尺寸:低至180 x 180 µm²

镜出口zui大积分通量:8 x 10⁸ cps

光束发散度:低至0.5 mrad

毫米大小的光束:高亮度和超低背景

绿色环保设计:低功耗、无耗水、使用寿命更长

优化光束形状和发散,以获得zui佳结果

TXS-HE X射线源

垂直ATLAS测角仪的紧凑轻巧设计

线焦点,0.3x3mm²

焦斑亮度为6 kW /mm²

阳极材料:Cu,Co,Cr,Mo

zui高zui大电压50 kV功率取决于阳极材料:Cr 3.2 kW,Cu / Mo 5.4 kW,Co 2,8 kW

预对准钨丝

高通量X射线源,允许水平安装样品。

强度是标准陶瓷X射线源的5倍

是线焦点和点焦点应用的理想之选

预对准的灯丝支持快速更换,极大地降低了对重新对准的要求。

TRIO Optics

软件按钮切换:

电动发散狭缝(Bragg-Brentano)

高强度Ka1,2平行光束

高分辨率Ka1平行光束

US10429326、US6665372、US7983389

可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换,无需人工干预

是所有类型的样品的理想之选,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

高分辨率单色器

对称几何和非对称几何中的Ge(220)和Ge(004)反射

2-b和4-b(Bartels型)单色器

利用SNAP.LOCK技术,进行免对准安装

在zui佳分辨率与强度平衡方面,为您提供广泛选择,助您获取zui佳结果

可快速更换单色仪,针对不同样品进行优化

ATLAS™测角仪

立式测角仪,采用强化的机械设计,面向的是TXS-HE X射线源

业界领先的角度精度:在NIST SRM 1976确定的整个角度范围内,保证±0.007°2θ

无缝集成D8系列组件:包括光学器件、定位摄像头、样品台、非环境和探测器技术

布鲁克独有的准直保证,为无与伦比的精确度提供了保证

绝对免维护的驱动机构/齿轮装置,终身润滑

支持所有应用程序,以生成zui高精度的数据

非共面臂

第三测角仪轴,用于研究超薄层和面内样品特性:

zui小步长:0.001°

zui高2θ范围(取决于配置):160°

探测器自动距离检测

通过角度编码器,即可获得无与伦比的精度

与DIFFRAC.SUITE软件无缝集成

范围高达160°2θ,可zui准确地测定非共面结构

EIGER2探测器提供实时校准

紧凑的UMC样品台

Compact UMC Plus 80:

XRPD快速旋转器

zui大(x, y)移动:+/- 40毫米

zui高样品高度:57毫米

Compact UMC Plus 150:

zui高(x, y)移动:+/- 75毫米

zui高样品高度:57毫米

用于硅片夹和倾斜台的真空和电力通孔

可在薄膜研究和粉末衍射模式之间无缝切换

5位进样器:样品直径为51 mm

9位自动进样器:样品直径为32mm

扫描2-4英寸晶圆

扫描6-8英寸晶圆

反射模式:96孔板

在连接倾斜样品台和真空样品台的情况下,可不受限制地进行Phi旋转,而无需考虑电缆或真空管路。

Centric Eulerian Cradle (CEC)

样品台:5个自由度

x、y:+/- 40 mm样品移动

z:高度对准

Phi:360°旋转

Psi:-11°-98°

zui高承载重量:1kg

提供各种样品台附件

侧面倾斜时可进行应力和织构测量,以获取更高的精度。

(x,y):自动映射功能。

电动倾斜台:可精确对准表面。

粉末或毛细管旋转器:可用于粉末衍射。

Bayonette样品台支持器:可与其他样品台快速、可重复地互换。

Pathfinder Plus Optics

软件按钮切换:

电动狭缝

2-b Ge分析晶体

集成自动吸收器

可在两种不同的光学器件之间全自动地进行电动切换,无需人工干预。

保持了LYNXEYE探测器的完整视野。

利用吸收器,确保了测得数据的线性。

LYNXEYE XE-T

能量分辨率: 8 KeV时,<380 eV

检测模式:0D、1D、2D

波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag

EP1647840、EP1510811、US20200033275

无需Kß过滤器和二级单色仪

铜辐射即可100%过滤铁荧光

速度比传统探测器系统快450倍

Bragg2D:使用发散的初级线束收集2D数据

探测器保修:交货时绝无不良通道 

EIGER2Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D / 1D / 2D)。

在分步扫描、连续扫描和高级扫描模式种无缝集成0D、1D和2D检测。

符合人体工程学的免对准探测器旋转功能,可优化γ或2Ɵ角度范围

使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 

连续可变的探测器位置,以平衡角度范围和分辨率

非环境

温度:范围从~-4 K到~2500 K

压力:10-⁴mbar至100 bar

湿度:5%至95%

在环境和非环境条件下进行调查

凭借DIFFRAC.DAVINCI,轻松更换样品台


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