-
-
FR-Mic全自动带显微镜多点测量
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Mic
- 产地:希腊
- 供应商报价: 面议
-
岱美仪器技术服务(上海)有限公司
更新时间:2024-08-07 14:35:12
-
企业性质生产商
入驻年限第1年
营业执照已审核
- 同类产品Thetametrisis膜厚仪(9件)
联系方式:卜新萍400-852-9632
联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
-
为您推荐
- 详细介绍
产品介绍:
FR-Mic多层膜厚度测试仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,可以将光斑缩小到几个微米,进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征。它可以配备一台专用计算机控 制的 XY 工作台,使其快 速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性 。也可以搭配自动平台测量 400x400mm 大小样品。Thetametrisis利用 FR-Mic,通过紫外/ 可见/ 近红外可轻易对局部区域薄膜厚度,厚度映射,光学常数,反射率,折射率及消光系数进行测量。【相关应用】高校 & 研究所实验室半导体制造 (氧化物/氮化物, 硅膜, 光刻胶及其他半导体薄膜.)MEMS 器件 (光刻胶, 硅膜等.)LEDs, VCSELs 多层膜测量应用数据存储阳极处理氧化膜曲面基底的硬化涂层聚合物膜层, 粘合剂.生 物医学(聚对二甲苯, 生物膜/气泡壁厚度.)OEM或客制化应用【特点】实时光谱测量薄膜厚度,光学特性,非均匀性测量, 厚度映射使用集成 USB 高品质彩色摄像机进行成像 (所視即所測)【技术参数】
*测量面积(收集反射或透射信号的面积)与显微镜物镜和 FR-uProbe 的孔径大小有关。
【工作原理】
1、规格如有更改,恕不另行通知;2、测量结果与校准的光谱椭偏仪和 XRD 相比较,3、连续 15 天测量的标准方差平均值。样品:(1um SiO2 on Si.) ,4、100 次厚度测量的标准方差,样品:1um SiO2 on Si.5、超过 15 天的标准偏差日平均值样品:1um SiO2 on Si。6、使用反射式物鏡。- 产品优势
- FR-Mic 多层膜厚度测试仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,可以将光斑缩小到几个微米,进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征。
-
MicrotracBEL全自动化学吸附仪BELCAT II
-
MicrotracBEL全自动容量法高压气体吸附仪BELSORP-HP
-
GaiaMicroscope 高光谱显微镜
-
zolix|超高真空光学显微镜/光谱仪测试系统
-
LCTech FREESTYLE GPC 全自动凝胶净化系统
-
LCTech FREESTYLE QuEChERS 全自动QuEChERS在线HPLC-MS联用方案
-
LCTech FREESTYLE SPE EVA 全自动固相萃取定量浓缩系统
-
PerkinElmer Spotlight™ 150i/200i 傅里叶变换红外显微镜系统
-
德国徕卡 偏光显微镜 DM2700P
-
德国徕卡 偏光显微镜 DM4P
-
德国徕卡 正置金相显微镜 DM12000M
-
徕卡 Leica DM2500 & DM2500 LED 荧光显微镜