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众测薄膜测厚仪THK-01

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产品特点

★测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量;
★可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制;
★嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁GX的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验
★标准化,模块化,系列化的设计理念,可zuida限度的满足用户的个性化需求
★触控屏操作界面
★7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线
★进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性
★内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能
★标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
★高精度测厚传感器,精度高重现性好
★可采用标准厚度计量工具标定、检验
★多种测试量程可选
★实时显示测量结果的zuida值、zui小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断

详细介绍

测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。


测厚仪参照标准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702


测厚仪参数:

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