ARL Quant’X 荧光能谱仪
应对RoHS指令 ――快速分析

超大Si(Li) 晶体，具有极高的痕量分析的灵敏度，打破lng的检测限壁垒
全数字脉冲处理器技术，死时间达60%， 以及优异的峰背比
高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性
高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术, 仪器免维护和零费用运行
超大样品室，可容纳300mm*(乘号)400mm的样品
全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制
镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术

ARL Quant’X 荧光能谱仪
具有广泛的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析,各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析,各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.

用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至100% 技术参数