特点

§ 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量

§ 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度

§ 操作简单，设置时间短

§ X射线探测器可以为比例计数管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器

§ 有定位装置，用于测量多个位置进行测量

§ 根据客户需要专门设计

§ 自动校准

§ 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线

§ 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中

典型应用领域

§ 电镀条带，例如接触点、冲压带

§ 测量热镀锌钢带

§ 太阳能薄膜电池（光伏产业

§ 薄膜和条带上的金属涂镀层

§ 电子工业及其供应商

§ 生产过程监控