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日本理学 下照式X射线荧光光谱仪 primus

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产品特点

分析对象:4Be-92U
分光系统:波长色散式
X射线发生部

详细介绍

技术参数:

分析对象:4Be-92U

分光系统:波长色散式

X射线发生部

X射线管:端窗式Rh靶 4kW或3kW

高压发生器:高频变频器方式

额定电压,电流:4kW,60kV-150mA

稳定度: 正负0.005%(对于正负10%输入变动)

冷却水:水冷冷却水(内置)

分光部

样品交换机:从12,24,36,48样品4种中选择一种

样品尺寸:51mmx30mm(H)

分析样品面:最 大35mm

样品旋转:30rpm

1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr)

视野限制光阑:6种自动交换机构(35,30,20,10,1,0.5)

发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率,高分辨率,超轻元素用(选件)

接受狭缝:SC用,F-PC用

测角仪:独立驱动

测角范围:SC5-118度 F-PC:13-148度

最 大扫描速度:1400度/min

连续扫描:0.1-240度/min

晶体交换:10晶体交换

分光晶体:标准:liF(200),Ge,PET,RX25 选件:LiF(220),RX4,RX9,RX40,RX45,RX61,RX75,RX80,RX61F,TAP

真空:双真空室(双真空泵),粉末样品附件(选件)

氦气置换机构:带隔板

恒温化机构:36.5度

记数.控制部:重元素用:SC,记数线性:1000kcps,轻元素用,芯线加热自动清洗

衰减器:IN-OUT自动切换

硬件:计算机:windouws PC

软件:定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景)

定量分析:检量线法JIS法,各种基体校正,无标样分析法)EZ扫描,应用模板,

样品径自动选择,谱峰分离,定精度测试,E-mail传送功能,多功能标准样品

其它为选件

维护功能:自动PH调整(PAS),全自动芯线清洗,自动老化,自动诊断,远程诊断


主要特点:

硬件:

采用新光学系统

1新型分光晶体,大幅度提高轻元素的灵敏度.

超轻元素对应的X射线光管(4kW,30薄窗)

48样品交换器

1次滤波片

双真空,双泵

粉末附件,防止污染真空泵

定点分析:最小直径500,MAPPING分辨率100

节省空间,节能

软件

新的SQX软件

委托分析EZ扫描

定角度测试模式

应用摸板

散射线FP法

流程条

其他软件

应用软件包


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