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平面平晶检测干涉仪
- 品牌:HL
- 型号: HOOLL9600A
- 产地:江苏 苏州
- 供应商报价:面议
- 冠乾科技(上海)有限公司 更新时间:2024-09-13 10:20:22
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销售范围售全国
入驻年限第5年
营业执照已审核
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产品特点
- 平面平晶光学平面等
详细介绍
(1)应用领域
计量领域(平面平晶检测),
半导体工业(晶片检测),
大平板显示(平面检测),
手机工业(背板检测),
光学加工(窗口玻璃检测),
高精度精密机械(平面元件检测),
LED工业(蓝宝石衬底检测),
数据存储和科研院校教学仪器等多种领域。
平面平晶、窗口玻璃、光学平面、金属平面、陶瓷平面等 光滑表面面形的高精度快速测量,90°直角棱镜和角锥测量。
(2) 产品综述
无应力平面检测干涉仪是高性能模块化组合检测干涉仪中的一种,
它采用组合式激光干涉仪作为核心部件,主要用于检测高精度平面。
该产品包括光源、主机、成像以及镜头和相移等四大模块,主要技术指标已达到国际水平, 采用更加简便操作的俯式测量,拥有极高的测量精度和测量重复性,
突破了一等平面平晶限制,且其采样点可达上百万像素,能客观反映被测平面全貌。 不仅测量精度高,而且具有极高的测量效率。
此款干涉仪可广泛应用高精度光学元件制造、计量检测、生物医学、
航空航天、国防、微电子、能源等众多领域 具有广阔的市场前景。
(3) 参数性能
测量原理:
斐索干涉原理
光源波长:
632.8nm
样品准直:
使用两个光点
电源:
220V 50HZ /11 0V 60HZ
操作系统:
Windows7/10, 32/64bit
CCD分辨率:
1280*960像素
软件:
H&L-p数字化相移分析软件
精密度:
入/600 PV
重复性:
入/500 PV
重复性:
入/1000 RMS
透射平面镜精度:
1/20 入 PV
◆材质均匀性
◆超精密平面/球面面形测量
◆光学系统装调和校准
◆光学组件透射波前测量
◆光学均匀性测量
◆平行度测量
◆角锥角度测量
◎◎我们会倾听您的需求,支持特殊需求定制
注:该仪器未取得中华人民共和国医器械注册证,不可用于临床诊断或治等相关用途
技术资料