LED 半导体冷热冲击测试设备

该设备主要由制冷系统、加热系统、控制系统以及测试腔室等部分构成。制冷系统运用压缩式制冷原理，通过制冷剂的循环流动实现低温环境的营造；加热系统则借助电加热元件，快速提升测试腔室内的温度。控制系统作为设备的 “大脑”，依据预设的测试程序，调控制冷系统和加热系统的工作状态，实现温度的快速升降和稳定保持。当测试开始时，测试样品被放置于测试腔室内，设备按照设定的温度变化曲线，迅速在高温和低温之间进行切换，使样品承受剧烈的温度冲击，以此检验样品在温度变化条件下的性能稳定性和可靠性。