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- 型号: DP-TS-2
- 产地:北京
- 供应商:北京亚欧德鹏科技有限公司
产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:DP-TS-2测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) DP-TS-2/TS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。技 术 指 标 : 产品按测...
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HAD-TS-2 便携式四探针测试仪
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1.产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:HAD-TS-2测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) HAD-TS-2/TS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。技 术 指 标 :便携式四探针测试...
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HAD-TS-2 便携式四探针测试仪
- 型号: HAD-TS-2
- 产地:北京
产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:HAD-TS-2测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) HAD-TS-2/TS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。技 术 指 标 : 产品...
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MHY-25917 便携式四探针测试仪
- 型号: MHY-25917
- 产地:北京
1:产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:MHY-25917 测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) MHY-25917型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 产品采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 2...
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HAD-TS-2 便携式四探针测试仪
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- 型号: HAD-TS-2
- 产地:北京恒奥德仪器仪表有限公司
四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:HAD-TS-2测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) HAD-TS-2/TS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 技 术 指 标 :产品按测量范围可选配...
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MHY-25917 便携式四探针测试仪
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- 型号: MHY-25917
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产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:MHY-25917测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) MHY-25917/A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 技 术 指 标 : 按测量范围可...
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MHY-25917 便携式四探针测试仪/
- 品牌:北京美华仪
- 型号: MHY-25917
- 产地:北京美华仪科技有限公司
1. 产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:MHY-25917测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) 产品/是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了Z新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。数字电压表 量程及表示形式:0...
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RTS-2/RTS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。仪器采用了Z新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。产品按测量范围可选配RTS-2型或RTS-2A型,区别:测量范围不一样。技术参数: RTS-2测量范围 电阻率:0.01~1999.9Ω.cm; 方块电阻:0.1~19999Ω/□; RTS-2A测量范围 电阻率:0.001...
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DS/RTS-2 便携式四探针测试仪
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- 型号: DS/RTS-2
RTS-2/RTS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了Z新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 ...
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- 型号: LY.4-2A
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产品 LY.4-2A 概述: LY.4-2/LY.4-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了Z新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。产品 LY.4-2A 技术指标:产品按测量范围可选配LY.4-2型或LY.4-2A型,区别:测量范围不一样。LY.4-RTS-2测量范围 电阻率:0....
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LY.4-2A 便携式四探针测试仪
- 型号: LY.4-2A
产品 概述:LY.4-2/LY.4-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了Z新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 技术指标:按测量范围可选配LY.4-2型或LY.4-2A型,区别:测量范围不一样。LY.4-RTS-2测量范围 电阻率:0.01~1999.9Ω.cm; 方块电阻:0.1~19999Ω/□; LY.4-R...