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- 型号: DP-TS-2
- 产地:北京
- 供应商:北京亚欧德鹏科技有限公司
产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:DP-TS-2测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) DP-TS-2/TS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。技 术 指 标 : 产品按测...
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产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:HAD-TS-2测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) HAD-TS-2/TS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
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产品/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:MHY-07987 测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式设计 体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深) MHY-07987 /TS-2A型产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。技 术 指 标 : 便携式...
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硅材料测试仪/产品 型号:ZH8728 产品简介: 便携式,使用9V扣式电池供电 具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。 预设样片厚度,自动修正,直读电阻率 报警门限预设0-1.0,按0.1步进,0不报警 整机尺寸:65×25×130 mm 电阻率:0.001-100欧姆厘米 测量精度:精确到百分位(即小数点后三位) 误差范围:
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