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天天特价 方块电阻测试仪/产品/四探针方块电阻测试仪 半价优惠 型号：LDX-XX-2LDX-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。 技术指标测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999....

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供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

方块电阻测试仪/产品/四探针方块电阻测试仪  型号：DP-XX-2方块电阻测试仪/产品/四探针方块电阻测试仪  型号：DP-XX-2,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻  型号：DP-XX-2特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。技术指标测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程...

供应商：北京恒奥德科技有限公司

方块电阻测试仪 产品 四探针方块电阻测试仪  型号：HAD-XX-2HAD-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。 技术指标测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)测量不确定度≤5%...

供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

【简单介绍】DP-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻【详细说明】方块电阻测试仪/产品/四探针方块电阻测试仪  型号：DP-XX-2DP-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜）……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物...

供应商：北京亚欧德鹏科技发展有限公司

方块电阻测试仪/产品/四探针方块电阻测试仪 型号：DP-XX-2DP-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻特点:1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰3、采用单个电池供电，带电池欠压指示4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。 技术指标测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)测量不确定度≤...

供应商：宁波瑞柯伟业仪器有限公司

 产品,双电测四探针测试仪 FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类...

供应商：北京中仪万成科技有限公司

 FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；产品本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.产品双电测数字式四探...

供应商：北京恒瑞鑫达科技有限公司

四探针电阻率测试仪  产品型号：SN/KDY-1北京产品是我公司严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。北京产品整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。 数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV 输入阻抗：1000ΜΩ 0—9.999mV 灵敏度：1μV 输入阻抗：10ΜΩ 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、 可测电阻率范围：0.001—6000Ω•cm。3、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即...

供应商：北京北信科仪分析仪器有限公司

方块电阻测试仪  四探针方块电阻测试仪 半导体方块电阻测量仪   型号:DL10-GT14-ST-21详细说明方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计，专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻，单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。特 点* 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定；* 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；* 采用单个干电池供电，带电池欠压指示；* 体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；* 轻便手持式设计操