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通过低能离子减薄仪制样方法提高透射电镜TEM分辨率
巨力科技有限公司更新于：2008-04-01

应用行业：石油/化工化学试剂/助剂

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新一代SEM（扫描电镜）TEM（透射电镜）XTEM（X透射电镜）和FIB（聚焦离子束）样品制备设备：低能离子减薄仪！常规的离子减薄仪离子源能量较大，非常容易破坏样品的微观结构，而且很难看到材料真实的自然状态下的纳米结构；而该设备采用低能离子源，在有效避免样品的微观结构被损伤的基础上，大大提高了电镜图片的清晰度，进而可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来

内容节点: 概述; 实验/设备条件; 样品提取; 实验/操作方法; 实验结果/结论; 仪器/耗材清单

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