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LUM 是世界上wei一拥有静置和离心加速两个系列稳定性分析仪的生产厂商。利用du家ZL的STEP 技术—空间和时间透光率扫描技术（图1），LUM 各系列稳定性分析仪可在样品静置或离心加速的同时，设置任意时间长度的扫描间隔（zui低可每秒钟扫描一次）对样品进行任意位置的透光率变化的检测。通过每个样品独特的透光率指纹图谱，可以对样品的分离行为和过程分析，得到样品的不稳定性指数，界面迁移速度，颗粒速度和分布，粒度和分布等定量分析。