网络讲堂 | 智能镀层分析如何保证质量、提高效率
课程简介 |
快速回顾一下,日立在镀层厚度测量市场具有长达45年的成功的应用历史,今天在市场上旺销的 FT110A, FT160 和 X-Strata920 分析仪器回顾起来均发展逾10年以上,并伴随一路的创新和改善,
时间
2024年3月21日 14:00-14:45
讲师介绍
董松林
应用工程师,日立分析仪器(上海)有限公司
课程提示
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