XRF镀层测厚仪测试步骤及注意事项
X射线测厚仪可以用来探测磁性金属表面覆盖的非磁性涂层厚度,测量准度很高,使用灵活。接下来和一六仪器一起了解XRF镀层测厚仪测试步骤及注意事项。
XRF镀层测厚仪测试步骤:
1.仪器及附件均处开机状态(电脑,显示器);
2.在程序库中选中与产品对应的曲线(产品需与曲线一致);
3.打开仪器前盖,台面自动伸出;
4.将样品放入仪器台面,测量大致位置对准仪器红外对焦点;
5.关闭仪器前盖,仪器台面自动归位;
6.在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调,精确对准测试位置;
7.点击SART测试;
8.测试过程中X-RAY指示灯亮红,此时严禁打开仪器前盖。
9.测试时间10秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度;
10. X-RAY指示灯熄灭,打开仪器前盖,台面自动伸出;
11.取出样品,完成测试;
XRF测厚仪操作注意事项:
1、X射线测厚仪测量时侧头与试样表面保持垂直。
2、X射线测厚仪测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
3、测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
5、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
以上就是一六整理分享的关于XRF镀层测厚仪测试步骤及注意事项。想了解更多相关资讯,欢迎持续关注。
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