可快速测试Seebeck系数，对样品无特殊要求，测量方法稳定可靠

薄膜热电参数测试系统是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量，测温范围达到81K~700K，采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。

热电参数测试系统采用动态法(具有ZL技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、Z...