详细介绍
组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列
光 致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光(如激光器等)激发样品/ 材料(如GaN/ZnO 等)产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。 OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计,在满足PL 光谱测量的同时,用户可以根据不同的实验需求,选择不同的配件,灵活的进行系统功能的扩展。 | ![]() |
系统组成:激发光源+ 样品室+荧光光谱仪+数据采集及处理系统+软件+计算机
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OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数
● 激发光源:HeCd激光器 ● 激发光功率:20mW ● 激发波长:325nm ● 瑞利散射截止滤光片,OD>6 ● 荧光光谱仪光谱范围:300-850nm(可扩展至2500nm) ● 荧光光谱分辨率:优于0.2nm(@1200g/mm光栅) ● 波长准确度:±0.2nm ● 波长重复性:±0.1nm ● 光探测器:科研级制冷型背感光CCD,300-1000nm ● 可选配闭循环超低温制冷机,zuidi温度可达2K ● 系统扩展性:系统采用模块化设计,可扩展至近红外波段光谱测量 ● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能,可随时储存和提取图谱,并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱 | ![]() |
解决方案