详细介绍
产品概述
发光体，如白炽灯、荧光灯、LED 等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。
针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED 通常分辨率要求不高，建议使用SGM100 或短焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等分辨率要求高，建议使用长焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪；宽波长范围（UV ～ IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，需要采用SD 滤光片轮消多级光谱。
发射光谱测量系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统
OmniES-扫描型发射光谱测量系统
OmniES-摄谱型发射光谱测量系统
产品优势
针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED 通常分辨率要求不高，建议使用SGM100 或短焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等分辨率要求高，建议使用长焦距“谱王”、“影像谱王”系列光谱仪/ 单色仪；宽波长范围（UV ～ IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，需要采用SD 滤光片轮消多级光谱。
解决方案
