-
- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-X3000
- 产地：日本
一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米 一台即可了解希望获取的信息 Z高分辨率0.01 nm
-
分光膜厚单元价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-T300
- 产地：日本
光膜厚单元 VK-T300
-
电动 XY 载物台价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-S2100
- 产地：日本
动 XY 载物台 VK-S2100
-
电动载物台 100mm价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-S1100
- 产地：日本
动载物台 100mm VK-S1100
-
电动载物台控制器 国外版价格：面议
- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-S1000K
- 产地：日本
动载物台控制器 国外版 VK-S1000K
-
电动载物台控制器价格：面议
- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-S1000
- 产地：日本
动载物台控制器 VK-S1000
-
CAD 比较模块价格：面议
- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-H3CA
- 产地：日本
AD 比较模块 VK-H3CA
-
倾斜载物台价格：面议
- 品牌： 日本基恩士
- 型号：OP-88549
- 产地：日本
斜载物台 OP-88549
-
图像拼接模块价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-H3J
- 产地：日本
像拼接模块 VK-H3J
-
白光干涉模块价格：面议
- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-H3I
- 产地：日本
光干涉模块 VK-H3I
-
观察分析软件价格：面议
- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-A3C
- 产地：日本
察分析软件 VK-A3C
-
测量头价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-X3100
- 产地：日本
型号VK-X3100类型测量头综合倍率42 至 28800 倍*1视野范围 11 至 7398 μm测量原理激光共聚焦、聚焦变化、白光干涉、分光干涉激光光源波长半导体激光 404 nmZG激光测量速
-
测量头价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-X3050
- 产地：日本
型号VK-X3050类型测量头综合倍率42 至 28800 倍*1视野范围 11 至 7398 μm测量原理激光共聚焦、聚焦变化、白光干涉、分光干涉激光光源波长半导体激光 661 nmZG激光测量速
-
控制器价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-X3000
- 产地：日本
型号VK-X3000类型控制器综合倍率42 至 28800 倍*1视野范围 11 至 7398 μm测量原理激光共聚焦、聚焦变化、白光干涉、分光干涉激光光源波长VK-X3100: 半导体激光 404
-
底座 (手动)价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-S1
- 产地：日本
型号VK-S1XY 载物台结构手动 运行范围70 mm x 70 mm重量约 16.0 kg Scroll
-
底座 (电动)价格：面议- 品牌： 日本基恩士
- 型号：VK-D1
- 产地：日本
型号VK-D1XY 载物台结构电动 运行范围100 mm x 100 mm重量约 18.5 kg Scroll
- 产品分类
- 品牌分类
- 数码显微系统 VHX-F 系列
- 数码显微系统 VHX-7000 系列
- 通用变焦镜头 VH lens 系列
- 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
- 3D轮廓测量仪 VR 系列
- 形状测量激光显微系统 VK-X3000 系列
- 传感器
- 测量仪 / 测量传感器
- 测量系统
- 安全保护器
- 流量 / 液位传感器 / 压力传感器 / 记录仪
- 静电消除器
- 视觉系统 / 图像传感器
- 控制系统（PLC、HMI、电机等）
- 激光打标机 / 激光雕刻机 / 喷码机 / 喷墨打标机
- 显微镜 / 3D显微系统
- 条码 / 二维码读取器
- 手持式条码 / 二维码读取器（带屏幕）
- 数据采集仪 / 记录仪
- 细胞计数仪
-
仪企号
基恩士（中国）有限公司
-
友情链接
