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用于交换膜燃料电池和氯碱工业的氯碱离子膜的区别

ansar_zishan 2018-11-24 04:58:43 371  浏览
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加州氯碱厂选用 InnovOx TOC 分析仪

简介和挑战 

       氯碱生产厂使用饱和盐水和电力,利用先进的膜技术来生产氯,广泛用于纯净漂白剂和其它含氯产品, 以及烧碱等。盐水中的过量有机污染物能够破坏膜系统,致使工厂停产。因此,改进生产中水流的有 机物监测,对于保护设备、维持生产运行是至关重要的。 

       北加州的氯碱生产厂利用实验室TOC分析技术来监测饱和盐水溶液中的有机物含量。虽然氯碱厂认识到TOC监测对保护先进的膜系统的重要性,但其实验室的TOC仪器依赖于高温氧化技术,无法满足连续运行的时间要求。因此,实验室经理决定寻求其它的在线监测技术方案,以更好地掌握生产过程, 同时满足可靠性和正常运行时间的需求。

解决方案 

       Sievers分析仪为现场测试提供了一套InnovOx在线型演示仪器。InnovOx在线型TOC分析仪能够连续、 精确地测量水中的有机碳,测量浓度范围广,从盐水到蒸汽冷凝水。用户安装了InnovOx在线型分析仪,用于监测盐水离子交换器和超纯盐水存储器之间的盐水。用户得到了盐水成分的连续数据,从而做出明智决策来保护膜系统。 

       Sievers的解决方案包括带有涡流冷却器的NEMA 4X 机壳。稍微加压机壳能够起到两个作用:冷却和净化气室, 防止腐蚀性气体进入。

       安装在现场的示范机不间断运行3个月,在运行期间工厂也进行了实验室测量,以确认分析仪的连续性能表现。典型的测量数据约为2 ppm TOC(见图 1),带有自动确效标样(5 ppm 碳的蔗糖)的峰值。 

       预防性维护计划(见图 2)旨在Z大程度降低关键运行中的意外风险。分析仪的标准配置双样品流功能,可用于自动清水冲洗,进一步降低了维护要求。

图 1 – Sievers InnovOx 在线型分析仪在监测氯碱厂的盐水供应时得到的 TOC 测量数据

图 2 - InnovOx 预防性维护时间表

结果 

       经过评估,该公司订购了 InnovOx 在线型 TOC 分析仪,并对此在线监测方案非常满意。公司的决定主要基于以下几方面: 

       • 数据精确度高,正常运行时间长 

       • 维护要求极低 

       • 改进的测量数据,先进的膜技术

       即便是在氯碱行业如此具有挑战性的应用中, Sievers InnovOx 分析仪也能够提高性能表现,延长正常运行时间。InnovOx 分析仪的优点包括:特定应用的样品制备、稳健的样品处理、业界ling先的超临界水氧化(SCWO)技术、精确的 TOC 测量、便捷的维护和操作。 InnovOx 在线型 TOC 分析仪能够提供连续数据,帮助工厂做出自信的决策,以保护设备和极大提高生产效率。

2019-12-25 15:06:04 758 0
InnovOx 总有机碳 TOC 分析仪在氯碱行业的应用

概况 

       很多成品Z终质量完全由原材料的初始质量决定, 如聚合物、有机和无机溶剂、清洁剂、纸和杀虫剂。 Z普遍的原材料是氯气与氢氧化钠等,由氯碱行业生产。 

       氯碱工艺就是通过电解近饱和、饱和以及超饱和的盐水来制取氢氧化钠和氯气。在强电流下,盐水分解产生氢氧化钠、氯气和氢气。这就是氯碱工艺, 工艺过程越GX,产品质量和利润就越高。 

       世界氯碱年产量已超过了 4500 万吨,其中北美和亚洲合计产出 1400 万吨,欧洲 1000 万吨,许多其 他区域提供余下的 2100 万吨。

生产方法 

       图 1 即为氯碱制造的大致的流程,从原始的盐水溶 液开始。盐水溶液浓度在 3.5% - 28.0%之间。对 此溶液用盐使之饱和、过滤、然后置入电解池。通强电流后,溶液被电解生成氯气、氢气和产生苛性碱溶液。此过程生成的三种产物都被净化,然后出售或用于其他内部工艺。进入电解池前,在盐水处理工艺的任何工艺点(如灰色区域所示)都可以进行总有机碳 TOC 检测。 

图 1 氯碱工艺

       在苛性碱溶液工艺区(橙色区域),可以进行氢氧 化钠溶液中无机碳(IC)的质量保证检测。

       饱和食盐水在直接电流刺激下被电解,在阳极产生 氯气,在阴极产生氢氧化钠和氢气。 为了避免氢氧化钠、氢气,与氯气发生化学反应,在电解槽中插入一张有孔的隔膜将其隔为阳极室和阴极室 (见图 2)。

       随着氢氧化钠在阴极富集,水被分解成氢气和氢氧根离子,化学方程式如 下: 2Na+ + 2H2O + 2e-→ H2+ 2NaOH 要电解出氢氧化钠必须防止氢氧化钠和氯气发生反应。通常,有三种处理方式:在电解槽中加入汞池、隔膜法和使用隔膜池工艺。其中,隔膜池工艺是Z经济有效的电解制碱方法,因为它耗电Z少,在碱浓缩过程中需要的蒸汽也相对较少。 

       膜池工艺使用全氟磺酸膜,具有离子选择性,以分隔阳极与阴极反应。只有钠离子和少量的水可以通过这张膜。 这样可以生产高质量的氢氧化钠(NaOH)。

图 2 氯碱生产

为什么检测总有机碳? 

       精良的氯碱工艺是建立在严格的变量控制基础上的, 电化过程中的各种影响因子需被监测和控制在一个稳定水平。其中一项重要指标就是盐水溶液中的总有机碳含量。通常,溶液中的总有机碳含量不能超过 10ppm。低于这个值,离子膜可以正常使用,但如果高于这个值,过量的有机物则可能会使溶液发泡阻塞离子膜,局部脱水,严重的甚至灼烧离子膜。 一旦离子膜遭到破坏,就必须重换一张以确保Z佳 效果。如果继续使用原离子膜,就必须大幅加强电压。不管用何种方法处理,一旦制碱过程受到干扰, 生产成本就会增加。

Sievers InnovOx方法学 

       Sievers 分析仪在总有机碳分析领域一直引ling创新的潮流,旨在为Z困难的基体提供Z有力的分析仪。 Sievers InnovOx 总有机碳分析仪在原有基础上进一步创新 , 采 用 超 有 效 的 超 临 界 水 氧 化 (Supercritical Water Oxidation,SCWO)技术, 能连续分析成百上千的水样,而无需重新校准,无 需系统维护,无更换部件。 

       Sievers InnovOx 分析仪的工作原理基于湿化学氧化技术,在水样中加入酸和氧化剂。通过吹扫去除无机碳,然后在升高的温度下样品被过硫酸盐氧化。 产生的二氧化碳被非色散红外光度计检测。

       分析仪内部配有加温装 置使水样和试剂温度升高,促进有效的氧化反 应,并使液态水转化成超临界水。到这个阶段 就产生了超临界水氧化 (SCWO)现象。这一突破性技术实现了99% 的氧化效率,确保分析结果有很高的准确度和 精确度。 

       同时,每次分析过程结束,InnovOx分析器都会自动去除样品基体中 的污物杂质,以保证没有盐或者氧化副产物遗 留在反应室、管道或阀中。

样品数据 

       表1和图3的数据显示了氯化钠溶液中总有机碳含量的回收率。这说明InnovOx能够有效分析TOC,不被溶液中的盐离子影响。数据表明InnovOx能够测定饱和盐水溶液中的TOC。

表1 TOC 回收率


饱和 NaCl 溶液
平均值4.20 ppm
标准偏差SD0.13 ppm
相对标准偏差RSD%3%

图3 NaCl回收率

结论 

       氯碱行业负责为成千上万的消费产品提供原材料。 产品的制造商需要一个可接受的纯度起始水平,以保证Z终产品的质量。氯碱行业通过使用TOC及几个其他的关键指标来监测其制造工艺的纯度。

       InnovOx分析仪重新定义了饱和盐水分析的生产量和生产效率。以前使用燃烧法分析仪需要两周才能完成分析的水样,现在使用InnovOx一个晚上就能解决,成本非常小。得益于先进的超临界水氧化 (SCWO)技术,Sievers InnovOx总有机碳TOC分析仪可以对各种困难基体的水样进行分析,可靠、 方便、Z低维护。



2019-11-06 14:13:28 473 0
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应用分享 | XPS成像功能分析评估质子交换膜燃料电池

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摘  要:本文主要通过XPS设备成像功能对质子交换膜燃料电池(Proton Exchange Membrane Fuel Cell简称PEMFC)进行表征分析。针对PEMFC中膜电极组件(MEA)这类特殊样品的表征难题,采用超低角超薄切片机制备超薄切片样品,通过XPS设备中的成像功能,很好地解决MEA性能评估的难题,为进一步研究和提升MEA性能提供指导和依据。希望XPS设备的成像功能为科研人员提供新的表征思路,充分利用XPS设备成像功能。


关键词: XPS  PEMFC  MEA  超薄切片 XPS成像 


1

1 前言

21世纪以来,人类社会取得快速发展,对能源的需求日益增强。然而,随着煤、石油、天然气等化石能源的不断消耗,能源匮乏和环境污染问题随之出现,研究开发清洁、GX的新能源就显得尤为重要。燃料电池自问世以来,因其清洁、能源转化效率高等特点,得到快速发展,在多个领域有广泛的应用,成为人们研究的热点材料。燃料电池是一种采用电化学反应的发电装置,按电解质类型可分为:碱性燃料电池(AFC)、磷酸燃料电池(PAFC)、熔融碳酸盐燃料电池(MCFC)、固体氧化物燃料电池(SOFC)和质子交换膜燃料电池(PEMFC)五大类。其中, PEMFC具有能量转换率高、清洁无污染、工作温度低、启动时间快、可靠性高、工作噪音小等优势,是一类具有很高应用前景的燃料电池。PEMFC结构如下图1所示

图1 PEMFC装置结构示意图


由上图1可知,PEMFC在原理上相当于水电解的“逆”装置,其单电池主要由阳极、阴极、质子交换膜和双极板组成。阳极为氢燃料发生氧化的场所,阴极为氧化剂(O2或空气)发生还原的场所,两极都含有加速电极电化学反应的催化剂;质子交换膜为电解质,只允许H+通过,为传递H+的介质;双极板为气体流通的通道。PEMFC电极一般分扩散层和催化层,通常用石墨化的炭纸或炭布作为扩散层材料,Pt/C作为催化层材料;全氟磺酸树脂(Nafion)作为质子交换膜材料;石墨或金属作为双极板材料。

对于PEMFC,由于质子交换膜为高分子聚合物且比较薄(通常在50~150 um),仅靠电池组的组装力,难以使质子交换膜立体化,从而导致电极与质子交换膜之间接触不好,阻碍H+进入多孔的电极内部,进而影响电池的质量。为实现电极的立体化,改善电极和质子交换膜的接触,通常会将加入Nafion的阳极、Nafion质子交换膜和加入Nafion的阴极压合在一起,形成“三合一”的膜组件(MEA),MEA是PEMFC的核心部件,如下图2所示。


图2 MEA结构示意图


PEMFC表征中遇到的问题及XPS解决方案


燃料电池工作中的电化学反应及变化往往发生在材料表面,这就需要表征分析表面变化情况。在表征表面变化时,电池材料研究中常用的表征手段通常难以取得好的表征效果;而XPS作为一种成熟的表面分析技术,由于其测试的表面敏感性,被越来越多地用于燃料电池的表征分析。同样,对于PEMFC材料,科研人员也会经常用XPS来进行表征分析。在表征PEMFC中的一些特殊组件,会遇到一些问题。比如本文要讲解的MEA材料,若此材料不同层存在元素扩散,特别是贵金属催化剂的扩散,将会严重影响MEA的质量。如何用XPS来表征MEA中元素的扩散情况,评估MEA性能和质量?


对于这个问题,您可能首先想到离子束深度剖析,通过深度剖析测试能很直观得到不同层元素的扩散情况。但是,MEA的质子交换膜的厚度通常在50~150 um,相对较厚,而离子束深度剖析通常适用于接近微米厚的样品,太厚的样品用此方式测试反而会起到事倍功半的效果。既然,离子束深度剖析的方式不适合。那么,XPS能否完成对此类型特殊样品的表征分析呢?答案是肯定的。


针对MEA材料表征的难题,本文采用一种特殊的制样方式,即将MEA制备成超薄切片使MEA中电极层和质子交换膜层都裸露出来,通过XPS设备的成像功能完成测试,能很好地解决问题,快速实现对MEA的评估。


样品情况及测试设备


选择PEMFC作为测试样品,需要将样品制备成超薄切片。那么,采用什么样的方式来制备合适的超薄切片呢?


由于MEA厚度通常在50~150 um,若采用传统横切技术,得到切片截面尺寸偏小,就会导致XPS测试中数据点不够;所以,为使超薄切片有更大的截面尺寸,在制备时建议采用超低角超薄切片机(ULAM)在超低角度(1~2°)下制备超薄切片。MEA制备的超薄切片样品如下图3所示。


图3 超低角超薄切片机制备MEA切片


本文主要通过XPS设备的成像功能来完成MEA超薄切片的表征分析,可选赛默飞XPS系列产品来进行测试表征,如下图4所示。


图4 赛默飞表面分析系列产品


MEA材料成像测试结果分析


4.1 MEA中代表性元素成像结果分析

为了对MEA材料中Epoxy、Pt/C电极和质子交换膜不同层有全面的了解评估,选择同时包含Epoxy、Pt/C电极和质子交换膜层的区域进行大面积(1mm)成像测试。选择MEA不同层代表性元素进行测试。测试完成后,各代表性元素成像图就不一一展示了,通过赛默飞XPS数据处理软件Avantage将各代表性元素成像图进行叠加处理,叠加后可得一张由不同色块组成的样品形貌图,如下图5所示。

图5 MEA不同层各元素大面积成像叠加图


由上图5,可直观地看到MEA的不同层结构,不同的色块清楚地反映出测试区域MEA的形貌信息。通过成像叠加图,可初步判断两个Pt/C电极与Nafion质子交换膜有明显的界面,它们之间没有明显的扩散情况。


4.2成像谱图回溯成谱结果分析

为进一步研究MEA中不同层中元素定性、相对定量及化学态信息,以全面评估MEA材料性能和质量。可通过赛默飞XPS数据分析软件Avantage中的回溯成谱功能来实现,即将元素成像谱图转化成元素高分辨窄扫谱图。在MEA三个不同层进行回溯成谱,如下图6所示。


图6 不同层中MEA回溯成谱位置

不同层中各元素回溯成谱相对定量结果比较,如下图7所示(注:由于MEA不同层中Pt、S元素相对含量较少,为了更好比较Pt、S元素,作图时对它们做了50倍扩大处理)。


图7 MEA不同层回溯成谱元素相对含量比较


由上图7,可得如下信息:

·由于MEA中,质子交换膜材料为Nafion,Pt/C电极中也混入了少量Nafion,扩散层材料为Epoxy,从而使质子交换膜层含较多F和少量S元素,Pt/C电极层含少量F和微量S元素,扩散层基本不含F元素和极微量S元素。

·Pt/C电极中含少量Pt元素,在Nafion和Epoxy区域中基本不含Pt元素,可判断Pt/C电极中Pt元素没向其它层大量扩散。

·MEA中不同层都含较多C、O元素。这是因为Nafion、Epoxy为高分子聚合物,主要成分为C、O元素;Pt/C电极中主要成分为C元素。

挑选MEA不同层代表性元素回溯成谱,进行元素化学态分析,如下图8所示。


图8 MEA不同层回溯成谱,C、Pt元素高分辨窄扫谱图


由上图8,通过比较不同层元素回溯成谱的高分辨窄扫谱图,可清楚直观地看到不同层元素化学态有较大差异:

·MEA不同层的C元素表现出不同价态。因为扩散层材料为Epoxy,可看到C元素主要以有机C-C的价态形式存在;而质子交换膜层材料为Nafion,可看到C谱图中出现了明显的有机C-F2新价态。

·MEA不同层的Pt元素表现出较大的差异。在Nafion层,基本没有Pt元素信号;而在Pt/C层,可看到明显Pt元素的信号,可进一步判断Pt没向Nafion层中大量扩散。


4.3成像谱图线扫描结果分析

通过成像谱图得到样品的形貌信息,已初步判断样品中各元素在不同层扩散情况。为进一步得到元素在不同层更直观的扩散情况,对元素扩散情况进行更好的评估,可通过赛默飞XPS数据分析软件Avantage中的线扫描功能来实现,即在成像谱图不同层中拉一条直线,将元素成像谱图转换成元素强度随距离变化二维谱图。在MEA两电极和质子交换膜层中进行线扫描,如下图9所示。


图9 MEA不同层各元素大面积成像叠加图和Pt元素线扫描谱图


由上图9,线扫描谱图为Pt元素强度随距离变化的谱图,可清楚直观地展现出Pt元素在MEA不同层的分布情况。Pt元素基本都分布在Pt/C电极层中;而在Nafion质子交换膜层中基本没有Pt元素信号,可进一步判断Pt元素没有明显扩散。同时,也可根据Pt元素变化情况,来估算线扫描方向Pt/C电极和Nafion质子交换膜的厚度信息。


为进一步研究Pt/C电极中Pt在小区域中扩散情况,特别是在Pt/C电极和Nafion质子交换膜界面处的扩散情况,这就需要高空间分辨率成像图,可对样品进行进一步小面积(250 um)成像测试,聚焦到MEA界面区域。此区域各元素成像叠加图和Pt、F元素线扫描图,如下图10所示。


图10 MEA界面区域各元素小面积成像叠加图和Pt、F元素线扫描谱图


由上图10,可直观地看到Pt/C电极层与Nafion质子交换膜层有明显的界面。Pt元素在界面处没有明显的扩散情况,这表明Pt/C电极中Pt元素没有向Nafion质子交换膜中扩散;而在界面处有少量F元素,这是因为电极层中也混有少量Nafion成分。


综上所述,通过XPS设备的成像功能,对MEA进行了全面表征分析,得到了丰富的样品信息:①通过对MEA不同区域代表性元素进行成像测试,直观地得到样品的形貌信息,快速判断元素在不同层的分布情况,可初步评估样品元素扩散情况。②通过对MEA成像谱图不同层回溯成谱,快速得到不同区域元素定性、相对定量及其化学价态信息。③通过对MEA成像谱图线扫描分析,直观地得到元素在不同区域的扩散情况,特别是在界面处的扩散情况。


这些信息,对于新制备的MEA,可辅助科研人员快速评估MEA性能和质量;对于使用过一段时间的MEA,可进一步研究MEA材料的失效机理。


结论


本文详细得展示了,通过XPS设备的成像功能,对PEMFC材料中的特殊样品进行成像表征分析,得到PEMFC材料中各元素定性、相对定量及化学态信息,同时也得到了电池材料中元素在不同区域的分布及扩散信息,很好地解决此类特殊电池材料分析表征的难题。这些表征信息,可让研究人员快速评估材料质量和性能,进一步研究电池材料的失效机理,从而助力科研工作者改进提升样品性能。


对于XPS,大家更熟悉的是其常规测试功能,比如常规XPS测试、离子束深度剖析等功能,而对XPS的成像功能可能了解不是很多。通过本文地讲解,可看出XPS成像功能在材料表征分析中也能发挥较大作用,希望XPS设备的成像功能为科研人员提供新的表征思路,广泛应用于各领域中;充分利用XPS设备的成像功能,助力科研人员的科研工作。


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预防性维护计划(见图2)旨在最 大程度降低关键运行中的意外风险。分析仪的标准配置双样品流功能,可用于自动清水冲洗,进一步降低了维护要求。


图1. Sievers InnovOx在线型TOC分析仪

在监测氯碱厂的盐水供应时得到的TOC测量数据


图 2. InnovOx 预防性维护时间表


结果

经评估,该公司订购了InnovOx在线型TOC分析仪,并对此在线监测方案非常满意。公司的决定主要基于以下几方面:

数据精确度高,正常运行时间长

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改进的测量数据,先进的膜技术

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